一、產品概述：
透射電鏡樣品桿清洗機是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）樣品準備而設計的高效清洗設備。該機采用先進的清洗技術，通過超聲波和化學溶劑的結合，能夠有效去除樣品桿表面的有機污染物、灰塵和其他雜質，確保樣品在顯微觀察中的清潔和高質量成像。透射電鏡樣品桿清洗機具有自動化控制系統，操作簡單便捷，并且可根據不同樣品材料和清洗需求進行參數調節。廣泛應用于材料科學、納米技術和生物醫學等領域，為研究人員提供可靠的樣品處理解決方案，提高實驗結果的準確性和重現性。
CIF透射電鏡（TEM）樣品桿清洗機采用遠程離子清洗源設計，清洗快速高效，低轟擊損傷，同時可實現常規等離子清洗。主要用于TEM透射電鏡樣品桿的等離子體清洗和真空檢漏。
二、設備用途/原理：
·設備用途
透射電鏡樣品桿清洗機主要用于清洗透射電子顯微鏡（TEM）樣品桿，以去除其表面的有機污染物、灰塵和其他雜質，確保樣品在顯微觀察中的清潔與高質量成像。該設備廣泛應用于材料科學、納米技術和生物醫學等研究領域，提升實驗結果的準確性和重現性。
·工作原理
該設備通常采用超聲波清洗和化學溶劑相結合的方式進行清洗。首先，樣品桿被放置在清洗槽中，清洗液通過超聲波振動產生細小氣泡，這些氣泡在破裂時能夠有效去除樣品表面的污染物。同時，清洗液中的化學成分進一步分解和溶解雜質。清洗過程能夠均勻、全面地處理樣品桿，確保其表面達到所需的清潔度，以提高透射電子顯微鏡的成像質量和分析準確性。
三、主要技術指標：
產品型號 | CIF-TEM |
等離子電源 | 13.56MHz射頻電源，射頻功率5-120W可調， |
遠程等離子源，自動匹配器 | |
清洗室 | 清洗室尺寸?180xH100mm |
清洗數量 | 可同時清洗3支TEM樣品桿 |
適配品牌 | THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷歐路JEOL |
氣體控制 | 標配單路質量流量計（MFC）可選雙路。50毫升/分，自動控制氣體流量，不會受環境溫度和壓力變化影響 |
氣源選擇 | 根據需求氧氣、氬氣、氮氣、氫氣等多種清洗氣源選擇 |
真空控制 | 質量流量計（MFC），皮拉尼真空計，測量范圍1E-5Torr |
操控方式 | 7寸全彩觸摸屏控制，中英文互動操作界面 |
真空泵 | 前級泵 |
抽氣速率2 L/s | |
分子泵 | |
極限真空:CF:5x10-6Pa，ISO-K: 3x10-5Pa | |
分子泵抽速 >80L/s （N2） | |
入口法蘭：DN100CF/DN100 ISO-K | |
質量保證 | 二年質保，終身維護 |
電 源 | 220V，50/60Hz，300W |
四、產品特點
1. 遠程離子清洗源
2. 一機多用
3. 清洗快速高效，低轟擊損傷
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