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深圳市矢量科學儀器有限公司

傅里葉紅外光譜儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號

品牌FEI/賽默飛

廠商性質經銷商

所在地深圳市

更新時間:2024-09-06 13:59:31瀏覽次數:788次

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價格區間 面議 儀器類型 實驗室型
儀器種類 傅立葉變換型(FT) 應用領域 綜合
傅里葉紅外光譜儀
一、應用:用于半導體材料內部含量檢測,同質外延厚度測量和其他應用,用于*進的半導體工廠,在硅生長和器件制造領域進行材料表征
二、技術參數:
1.光譜范圍:遠紅外、中紅外、近紅外、可見光
2. 信噪比:>55000:1
3.光譜分辨率(cm-1):<0.09電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm

一、產品概述:

傅里葉紅外光譜儀FTIR)是一種高精度的光譜分析儀器,廣泛應用于化學、材料科學、環境監測和生物醫學等領域。它的工作原理基于材料對紅外輻射的吸收特性,通過分析分子振動和旋轉模式,提供有關樣品分子結構和成分的重要信息。與傳統的紅外光譜儀相比,FTIR具有更高的靈敏度和分辨率,使其能夠檢測和識別復雜混合物中的微量成分。

二、設備用途/原理

·設備用途

傅里葉紅外光譜儀主要用于定性和定量分析各種化合物,包括有機和無機物質。研究人員可以利用該儀器進行材料表征、污染檢測、藥物分析和生物樣品研究,以了解樣品的化學結構和組成。

·工作原理

傅里葉紅外光譜儀通過發射紅外光束到樣品上,測量樣品對不同波長的紅外光的透過率或反射率。儀器內部使用干涉儀將光信號轉換為干涉圖譜,隨后利用傅里葉變換算法將干涉圖譜轉換為光譜數據。用戶可以分析光譜中出現的特征峰,識別樣品中的功能團和化合物,從而獲得詳細的化學信息。

三、主要技術指標:

1. 應用:用于半導體材料內部含量檢測,同質外延厚度測量和其他應用,用于優良的半導體工廠,在硅生長和器件制造域進行材料表征

2. 光譜范圍:遠紅外、中紅外、近紅外、可見光

3. 信噪比:>55000:1

4. 光譜分辨率(cm-1):<0.09電阻率: 1.0μ - 300.0k Ω.cm      


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