一、產品概述：

智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品。

二、設備用途/原理：

·設備用途

1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

2. 計算結晶化度、晶粒大小

3. 確定晶系、晶粒大小與畸變                    

4. Rietveld定量分析            

5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度

6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構

7. 小角散射與納米材料粒徑分布

8.微區樣品的分析。

·工作原理

X射線衍射儀的工作原理基于布拉格定律。當X射線照射到晶體樣品時，晶體內部的原子平面會引起X射線的衍射。通過測量不同衍射角度下的強度，儀器能夠繪制出衍射圖譜。根據衍射圖譜中的峰值位置和強度，研究人員可以確定樣品的晶體結構、相組成以及其他晶體特性。這一過程通常需要高度精確的旋轉和檢測系統，以確保數據的準確性和可靠性。