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  • 動態二次離子質譜儀 參考價：面議

    動態二次離子質譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產生二次離子，然后用質譜分析儀分析二次離子的質荷比（m/q），從而得知元素在樣...
    型號： PHI ADEPT... 廠商性質：代理商所在地：北京市 對比
    D-SIMS二次離子表面分析PHI材料
    2022/3/7 17:24:342185

  • 掃描俄歇納米探針 參考價：面議

    PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設計*的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區域，超薄薄膜和多層結構材料表界面的元素態和化學態信息。作...
    型號： PHI 710 廠商性質：代理商所在地：北京市 對比
    表面分析俄歇AESPHI
    2022/3/7 11:11:44822
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