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  • 飛行時間質譜儀 參考價：面議

    nanoTOF 3+是PHI較新一代的TOF-SIMS，擁有全新外觀、緊湊設計，以及更強性能。
    型號： PHI nanoT... 廠商性質：代理商所在地：南京市 對比
    表面分析二次離子質譜儀PHI材料半導體
    2024/1/17 15:38:501651

  • 動態二次離子質譜儀 參考價：面議

    動態二次離子質譜儀（D-SIMS）是使用一次離子束（通常是Cs源）轟擊樣品表面，而產生二次離子，然后用質譜分析儀分析二次離子的質荷比（m/q），從而得知元素在樣...
    型號： PHI ADEPT... 廠商性質：代理商所在地：北京市 對比
    D-SIMS二次離子表面分析PHI材料
    2022/3/7 17:24:342185
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