當前位置：上海明策電子科技有限公司>>測溫儀>>半導體&薄膜測溫>> Sekidenko OR4000E半導體薄膜高溫計
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 電子,交通,汽車,電氣,綜合 |
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優點:
提高可重復性并顯著減小誤差
提高生產率、產量和生產能力
提高多個腔室和基材的穩定性和可靠性
特點:
·主動輻射率檢測和補償
溫度和輻射率讀取速率快
·模塊化的結構具有高靈活性
·全套I/O和外部觸發器/同步組件
技術參數：
| 概述: | 實時，雙通道，在測量過程中能實時測量材料發射系數并糾正，補償測量溫度，測量速度高達2kHz |
| 通道配置: | 1-2通道，透過脈沖發射器實時糾正發射系數，每個通道可單獨配置 |
| 測溫范圍: | 50-3500°C |
| 實時發射系數范圍: | 0.03 至 1.0 |
| 測量波長: | UV to 2300 nm |
| 讀取速率: | 高達2kHz,在實時發射系數自糾正溫度測量模式下可達500Hz |
| 測量精度: | ±1.5℃ |
| 重復精度: | ±0.1℃℃，正常情況下 |
| 分辨率: | 0.001°C |
| 顯示: | 內置，4x20LCD屏，帶鍵盤輸入 |
| 數據I/O: | RS-232,RS-422/485,and Etherne |
| 模擬輸出: | t0-10V或4-20mA |
| 控制接口: | 外部觸發輸入，同步輸出，高低報警 |
| 電源: | 交流:90 to 263 VAC, 47 to 63 Hz直流:24V DC |
| 環境參數: | 5-40℃，非冷凝 |
| 物理尺寸: | 8.6 cm (H)x15.2 cm ()x 21.8 cm(D) |
| 重量: | 2.0kg |
| 安裝: | 底部M3 X0.75螺孔 |
| 采樣響應時間: | 2kHz采樣速率時<2ms |
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