當前位置：上海明策電子科技有限公司>>測溫儀>>半導體&薄膜測溫>> Sekidenko OR400M半導體外延片測溫儀
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 化工,電子,航天,汽車,電氣 |
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優點:
溫度范圍為50℃C至1300℃
讀取速率高達250Hz
單通道配置可選/固定發射率
高速、固態檢測器
可配置的過濾器、檢測器和光學傳輸系統
RS-232連接模式
應用：
適用于半導體外延，太陽能薄膜和玻璃類工藝
技術參數：
| 通道配置: | 帶可選/固定發射系數的單通道溫度測量 |
| 測溫范圍: | 50-1300℃ |
| 測溫波長: | 3.3 和 5.2 um |
| 讀取速率: | 高達250 Hz |
| 測量精度: | ±3℃℃ |
| 重復精度: | ±0.1℃℃，正常情況下 |
| 分辨率: | 0.01°C |
| 顯示: | 無，可通過RS232設置 |
| 數據I/O: | US232,可達115kB |
| 模擬輸出: | 0-10V或4-20mA |
| 電源: | 交流:90 to 263 VAC,47 to 63 Hz直流:24V DC |
| 環境參數: | 18-40℃，非冷凝 |
| 物理尺寸: | 32 mm (H)x 57 mm (W)x 235 mm (D) |
| 重量: | 0.39kg |
| 安裝: | 框架安裝、安裝孔安裝等 |
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