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FRANG-SR500進口光學膜厚儀PX 4497
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FTPadv Expert薄膜計量光譜反射儀軟件PX 1900
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FRANG-SR500光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀PX 4497
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NS200臺階輪廓儀PX 5183
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WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測系統PX 5183
SuperViewW1芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀PX 5183
WD4000晶圓厚度測量系統PX 5183
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WD4000晶圓測量設備幾何形貌測量系統PX 5183
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SM230自動光學薄膜厚度掃描測繪儀PX 3525
SM200系列光學薄膜厚度測量儀PX 3525
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FR-uProbe微米級光學薄膜測厚儀PX 3525
HM-S100非接觸光學半自動薄膜厚膜檢測設備PX 0
WD4000半導體晶圓表面形貌檢測設備PX 5183
VT6100共焦顯微鏡測量儀PX 5183
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日本 Toho FLX-2320系列薄膜應力測試儀PX 0
QUASAR-R100系列反射式膜厚儀PX 0
MKF1-KW2-20036+428德國福鳥VOGEL測量儀常規型號現貨PX 0
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀PX 0
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其它半導體行業儀器設備
晶圓微觀三維形貌測量系統
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半導體晶圓厚度量測系統
進口光學膜厚儀
聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀
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芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀
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