布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設(shè)計創(chuàng)新，實現(xiàn)了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5?。這項測量性能的提高，達到了過去四十年Dektak 體系技術(shù)創(chuàng)新的高峰，更加穩(wěn)固了其行業(yè)中的帶頭地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，在研究工作中的廣泛使用使得 DektakXT 的功能更強大，操作更簡便易行，檢測過程和數(shù)據(jù)采集也更加完善。

第十代 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域。

DektakXT 技術(shù)參數(shù)

臺階高度重復性 5?

— 單拱龍門式設(shè)計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

— 先進的”智能化電子器件”實現(xiàn)了低噪聲的新 標準

— 新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了 40%

— 64 位的 Vision64 同步數(shù)據(jù)處理軟件，將數(shù) 據(jù)分析速度提高十倍。 功能強大，操作簡易

— 直觀的 Vision64 用戶界面操作流程簡便易行

— 自對準式探針設(shè)計使得更換探針的步驟簡便 易行

— 性能優(yōu)異, 物超所值

— 獨到的傳感器設(shè)計使得在單一平臺上即可實 現(xiàn)超微力和正常力測量。

建立在40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識和經(jīng)驗之上薄膜測試儀，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的。新的DektakXT是single-arch設(shè)計的探針輪廓儀，內(nèi)置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

有超過一萬臺設(shè)備，品牌Dektak以質(zhì)量、可靠性及高性價比著稱。當需要臺階高度、表面粗糙度、可靠測量時，人們就會借助Dektak。引進DektakXT，Bruker能讓您進一步獲得可靠及表面測量

利用直接驅(qū)動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間，而沒有影響分辨率和背景噪聲。這一改進大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶界面，簡化了實驗操作設(shè)置，自動完成多掃描模式，讓重復和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔。