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目錄:北京卓立漢光儀器有限公司>>光譜儀器>>微區磁光及角分辨>> 微區-磁光克爾效應測試系統

微區-磁光克爾效應測試系統
  • 微區-磁光克爾效應測試系統
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
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  • 品牌 ZOLIX/卓立漢光
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2024-11-26 17:26:44瀏覽次數:299評價

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產地類別 國產 價格區間 面議
應用領域 化工,農業,電子,綜合
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出微區-磁光克爾效應測試系統,可根據用戶需求提供定制化解決方案,產品范圍涵蓋微區磁光克爾系統和磁圓二色測試系統,并可根據用戶需求升級拓展拉曼,熒光,熒光壽命及二次諧波等模塊,可用于檢測樣品表面磁性和磁疇結構,適用于磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子器件等應用領域。

微區-磁光克爾效應測試系統

產品概述

磁光克爾測量技術主要通過探測光和磁性樣品相互作用后反射光的偏振態變化來研究材料的磁性,在超快磁光存儲領域有重要應用,磁光克爾測量技術是一種無接觸光學測量技術, 在單原子層微小樣品測量方面*具優勢,實現PPMS和SQUID無法完成的測量。微區磁光克爾系統是基于磁光克爾效應的非接觸、非破壞可直接觀測磁性材料和器件中的磁化狀態的光學顯微成像設備,用于清晰直觀了解樣品內的磁化狀態空間分布和時間演化。
北京卓立漢光儀器有限公司全新推出微區磁光克爾及磁圓二色測試系統,可根據用戶需求提供定制化解決方案,產品范圍涵蓋微區磁光克爾系統和磁圓二色測試系統,并可根據用戶需求升級拓展拉曼,熒光,熒光壽命及二次諧波(可選配電控偏振)等模塊,可用于檢測樣品表面磁性和磁疇結構,適用于磁性材料、二維鐵磁材料和自旋電子器件等應用領域。

  • 非接觸,非破壞

  • 波長,偏振態,角度分辨

  • 微區測量

  • 磁疇成像

系統結構

磁光克爾顯微成像測試系統使用多路鎖相,同步采集,大幅抑制激光功率波動噪聲。配置無磁反射式物鏡或單個非球面鏡成像,極低的法拉第效應。使用光彈調制器,同步獲得MOKE與RMCD數據。產品從空間配置與鍍膜參數嚴格設計及檢測的光學元件組,保偏性能*佳。

微區-磁光克爾效應測試系統

主要配置清單

模塊

參數

主體架構

主體尺寸:長 × 寬 × 高,約 600 mm × 600 mm × 550 mm;
高承重三維電控底座:步進電機位移行程:行程:X*Y*Z 120*120*40 mm;XY最小步進距離: 0.04 um, Z軸最小步進距離:~0.01 um;最大負載:> 10 Kg;
鋁合金整體架構;
光路整體移動:1. 光路移出以更換樣品;2. 大范圍尋找待測區域。
靠近磁體部分采用無磁設計;

顯微成像模塊

尺寸:長 × 寬 × 高,約 550 mm × 550 mm × 145 mm;
可見光相機:20M pixels,15fps@5K ,50fps@1.8K, Sony 1 英寸CMOS;
物鏡: 適配磁體,無磁反射式物鏡或非球面透鏡;
照明光源: 科勒照明, LED面光源,亮度連續可調;
成像模塊可電控完*移出光路,且不影響樣品面光斑位置。

MOKE&RMCD模塊

外殼尺寸:長 × 寬 × 高,約 550 mm × 550 mm × 145 mm;
包含所需的外置設備:鎖相放大器;
低噪聲前置放大探頭;
光彈調制器;
斬波器;
克爾角分辨率: ~0.5 mdeg  (~ 8.7mrad);
一次掃場同時獲得RMCD和MOKE數據;
電控切換成像與測試;
電控功率;
Mapping功能,配合步進掃描臺,或低溫設備內置壓電臺。

Raman532&PL&SHG模塊

外殼尺寸:長 × 寬 × 高,約 550 mm × 550 mm × 145 mm;
拉曼*低波數:< 80 cm-1;
空間分辨率:300 nm (532 nm激光);
電控偏振掃描:起偏&檢偏,角度分辨率 0.0144 deg;
電控功率調整;
Mapping功能,配合步進掃描臺,或低溫設備內置壓電臺。

532nm窄線寬激光器
MSL-U-532

中心波長:532nm+/-0.1
輸出功率:100mw
功率穩定性:2%(4 小時 RMS)
M2:<1.2
線寬:<0.00001nm
光斑模式:TEM00
噪聲:<0.5%

軟件

MOKE,RMCD,Raman,PL 掃描成像;
偏振掃描;
支持文本代碼輸入,以實現自動化測試流程;

典型光路原理:

模塊化軟件界面:

微區-磁光克爾效應測試系統

可編程自動化運行界面:

微區-磁光克爾效應測試系統

典型數據和論文:


微區-磁光克爾效應測試系統


微區-磁光克爾效應測試系統

面掃描,磁疇成像,器件成像

微區-磁光克爾效應測試系統微區-磁光克爾效應測試系統

本系統已發表論文:

[1] Huang X, et al. Nature Communications, 14(1): 2190.( 2023)
[2] Chen X, et al. Adv. Sci. 10, 2207617.( 2023)
[3] Dai H, et al. [J]. ACS nano, 16(8): 12437-12444.( 2022)
[4] Dai H, et al. [J]. ACS Appl. Mater. Interfaces 2021, 13, 24314?24320
[5] Zhang L, et al. Adv. Mater. 2020, 32, 2002032
[6] Wang M, et al. Nanoscale, 2020, 12, 16427.

可擴展功能:

拉曼,熒光,熒光壽命及二次諧波

微區-磁光克爾效應測試系統

典型實測數據:
偏振二次諧波:紅*納米帶

微區-磁光克爾效應測試系統

熒光壽命掃描(FLIM):Cs/FA/MA三陽離子鈣鈦礦

微區-磁光克爾效應測試系統

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