l無需標樣一鍵測試

l大面積Si-pin半導體探測器

l微聚焦高集成垂直光路交換裝置

微聚焦高集成垂直光路交換裝置

前沿的光路聚焦系統設計,實現對極小測量點高效、精準、穩定檢測

變焦對焦一體技術

可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍可達35mm

大面積Si-pin半導體探測器

行業更多選擇的高性能高分辨率探測器，可大大提升測量精度與穩定性

使用成本低

運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低

使用壽命超長

智能高壓控制搭配散熱系統,大大提升儀器使用壽命和穩定性

涂鍍層分析

Li(3)-U(92)

算法

增強型FP算法

分析軟件

可同時分析15層鍍層，24種元素

射線方向

從下往上

X射線發生裝置

微聚焦增強型射線管

接收器

大面積si-pin半導體探測器

SDD探測器

多道分析器

DPP數字多道分析技術

高壓

0-50KV智能程控高壓系統

準直器

標配Φ0.3mm（Φ0.3mm/Φ0.2mm/Φ0.5mm三選一）

樣品觀察

工業 CCD 高清攝像頭

放大倍數

光學放大30倍

光斑擴散度

<10%

變焦裝置

標配（可測凹凸異形件）

移動平臺

標配XY移動平臺

外觀尺寸

555*573*573mm

腔體尺寸

410*478*245mm