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首頁>>上海激譜光電有限公司>>產品展示>>測量儀器

  • OPTM 系列顯微分光膜厚儀 參考價：面議

    OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各...
    型號： 廠商性質：經銷商所在地：上海市 對比
    膜厚儀
    2024/11/28 10:43:41439

  • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo 參考價：面議

    ELSZ series的高級機型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測定之外，還能進行分子量測定的裝置。...
    型號： 廠商性質：經銷商所在地：上海市 對比
    ZETA電位粒徑分子量
    2024/11/28 10:41:50419
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