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Park NX-TSH

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更新時間:2022-11-17 16:34:28瀏覽次數(shù):508

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產品簡介

產地類別 國產 應用領域 環(huán)保,化工,能源
Park NX-TSH業(yè)內一個用于分析大于300毫米樣品的自動化探針掃描器。
?Park原子力顯微鏡公司已經擴展了原子力顯微鏡設備的測量尺寸, ParkNX-TSH(龍門架設計平板式探針掃描器)可針對第八代及大于 第八代的所有大型平板顯示器進行測量。

詳細介紹

專為超大納米平板顯示器測量而設計的 自動化原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)

專為0LED, LCD和其他大樣品分析提供

全自動的原子力顯微鏡解決方案

全自動探針掃描器系統(tǒng)可用導電原子力顯微鏡的測量


Park NX-TSH業(yè)內一個用于分析大于300毫米樣品的自動化探針掃描器。

?Park原子力顯微鏡公司已經擴展了原子力顯微鏡設備的測量尺寸, ParkNX-TSH(龍門架設計平板式探針掃描器)可針對第八代及大于 第八代的所有大型平板顯示器進行測量。

? NX-TSH專為大型和重型平板顯示玻璃和二維編碼器設計,還配有用于導電原子力 顯微鏡和電學缺陷分析的微型探針站。

? Park NX-TSH 可掃描高達 100 |jmx 100pm (x-y方向)和15 pm(z方向)。

?ParkNX-TSH有一個柔性卡盤,可容納大于 300毫米的大型和重型樣品,專為OLED、LCD 和其他大樣品分析而設計。

?將樣品固定在樣品臺上,并將安裝在龍門架上的探針掃描器移至 樣品表面所需的測量位置。

?PNX-TSH探針掃描器系統(tǒng)克服了樣品尺寸和重量的限制, 樣品會被固定在樣品臺上。

?PNX-TSH專為新一代顯示器工廠的應用需求研發(fā)設計, 大樣品尺寸可以測2200 mm。

?使用導電原子力顯微鏡, NX-TSH使用可選探針站測量樣品表面, 該探針站接觸樣品表面并向晶圓上的設備提供電流:

為大型納米級尺寸樣品測量提供解決方案

隨著對大型平板顯示器原子力顯微鏡計量需求的增加, NX-TSH通過利用探針掃描器和龍門式氣浮臺的 結合,克服了針對大型和重型樣品進行納米計量的巨大挑戰(zhàn)。

能獲得以下高分辨率圖像和數(shù)據(jù):

•表面粗糙度

•臺階高度

•關鍵尺寸

•側壁信息


原子力顯微鏡可提供的,以及非破壞性的納米尺度樣品測量方法

•ParkNX-TSH在研究OLED, LCD時候,通過使用專有的龍門橋式系統(tǒng)可獲得可靠高分辨率的AFM圖像,大大提高產率。

•用戶在使用ParkNX-TSH時候,可獲得用于大型重型樣品如平板顯示玻璃和2D編碼器等的圖像和計量數(shù)據(jù)。


NX-TSH原子力顯微鏡技術

行業(yè)的低噪聲Z檢測器

我們的原子力顯微鏡配備了的0.02 nm低噪聲Z檢測器,從而達到精準的樣品形貌成像,無邊緣過沖,更無需校準。 使用ParkNX-TSH在為用戶節(jié)省時間的同時更能幫助用戶獲佳測量數(shù)據(jù)。

True Non-Contact™模式

True Non-Contact™^式是Park原子力顯微鏡系統(tǒng)的掃描模式,通過在掃描過程中防止針尖和樣品損壞, 從而產生高分辨率和準確的數(shù)據(jù)。

更快速的Z軸伺服使得真正的非接觸式原子力顯微鏡有更精確的反饋

· 減少針尖磨損-長時間高分辨率掃描

· 無損式探針-樣品接觸一?樣品受損小化

可滿足各種條件下,對各種樣品都能夠進行非接觸式掃描

接觸模式下,針尖在掃描過程中持續(xù)接觸樣品;輕敲模式下,針尖周期性地接觸樣品,而在非接觸模式下針尖不會接觸樣品。因此,使用非接觸模式具有幾個關鍵優(yōu)勢。由于針尖銳度得以保持,在整個成像過程中會以高分辨率進行掃描。非接觸模式下由 于針尖和樣品表面可以避免直接接觸,避免損壞軟樣品。

此外,非接觸模式可以感知探針與樣品原子之間的作用力。探針接近樣品時產生的橫向力可以被檢測。 因此,在非接觸模式下使用的探針可以避免撞到樣品表面突然出現(xiàn)的高層結構。接觸和輕敲模式只能 進行探針底端力檢測,很容易受到這種撞擊傷害。

PaNX-TSH

創(chuàng)新性的原子力顯微鏡技術

具有閉環(huán)雙伺服系統(tǒng)的100pmx 100pm柔性導向XY掃描器

XY掃描器由對稱的二維撓曲和高強度壓電疊層組成,它小化的面外運動能提供高度的正交掃描,用快的響應來完成納米尺度上精確樣 品掃描。X丫掃描器的每個方向是都裝有兩個對稱的低噪聲位置傳感器,在大的掃描范圍及大樣品掃描時能發(fā)揮高效的正交性。

有低噪聲位置傳感器的15卩m高速Z掃描器

NX-TSH利用其超低噪聲Z檢測器代替了通常使用的非線性Z電壓信號,可為用戶提供高精度測量。業(yè)界的低噪聲Z檢測器取代了所施 加的Z電壓作為形貌信號。標準Z掃描器由高強度壓電堆驅動,并由撓曲結構引導,具有高共振頻率,可以實現(xiàn)更準確的反饋。使用可選 的長距離Z掃描儀,大Z掃描范圍可從1 5卩m擴展到40 pmo


自動換針器(ATX)

ATX通過模式識別自動定位針尖,并使用一種新的磁性方法來取放新舊探針。 激光光斑通過電動定位技術自動對準。

自動測量控制,簡易操作測量更精準!

NX-TSH配備自動化軟件,使用測量程序便可獲得精確的多點分析,并對懸臂梁調諧、掃描速率、 增益和設定點參數(shù)進行優(yōu)化設置。

Park人性化設計的軟件可使用戶自由訪問NX-TSH的全部功能并獲得所需的測量值。

創(chuàng)建新的測量程序其實很簡單,從開始創(chuàng)建到能夠自動化運行只需大約10分鐘的時間, 而對創(chuàng)建過的程序進行修改的話也只需不到5分鐘。

電離系統(tǒng)可提供更穩(wěn)定的掃描環(huán)境

我們創(chuàng)新的電離系統(tǒng)可快速有效地去除樣品環(huán)境中的靜電荷。

由于該系統(tǒng)始終生成并保持正負離子的理想平衡,因此可以 創(chuàng)建一個極其穩(wěn)定的電荷環(huán)境,幾乎不污染周圍區(qū)域,并且 將在樣品處理過程中產生意外靜電的風險降至低。

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