PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿

PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結構。透射電子顯微鏡原位加熱/電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學測量芯片。微加熱芯片可對樣品進行可控溫度的加熱，電學測量芯片可對樣品進行電性質測量。并可在進行加熱和電學測量的同時，動態、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。
     TEM冷凍樣品桿性能指標：

● 兼容型號電鏡及極靴；

● 保證電鏡真空度；

● 溫度變化范圍：低至85 K；

● 可選高傾角版本。

• 部分國內用戶

  

  部分國外用戶