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詳細(xì)摘要： 日本ewig袖珍型超聲波測厚儀 UTM-110 / 210UTM-110 / 210 是 一臺袖珍型超聲波測厚儀的東京計(jì)機(jī)自豪地交付的先進(jìn)機(jī)器。在保持傳統(tǒng)型號的...

詳細(xì)摘要： 日本ewig便攜式超聲波測厚儀 UTM-110 / 210UTM-110 / 210 是 一臺袖珍型超聲波測厚儀的東京計(jì)機(jī)自豪地交付的先進(jìn)機(jī)器。在保持傳統(tǒng)型號的...

詳細(xì)摘要： 日本ewig PET瓶水量自動測量儀EH-5500W該設(shè)備自動測量PET瓶的含水量，并實(shí)時輸出和匯總數(shù)據(jù)。可通過機(jī)器人的 I/O 信號實(shí)現(xiàn)全自動支持（訂購時可選...

詳細(xì)摘要： 日本ewig瓶坯自動測厚儀EH-8000它是一種自動測量PET瓶坯厚度并實(shí)時輸出和匯總數(shù)據(jù)的測量機(jī)。

詳細(xì)摘要： 日本sasaki koki半導(dǎo)體硅晶片用測厚儀OZUMA22半導(dǎo)體（各種材料）的晶片硅Si.GaAs砷化鎵等，玻璃，金屬，化合物等的高精度非接觸式厚度測量（非接...

詳細(xì)摘要： 日本sasaki koki半導(dǎo)體玻璃用非接觸式測厚儀OZUMA2通過空氣背壓法可以進(jìn)行非接觸式測厚（非接觸式測厚），不會造成劃痕和污染等損壞。不依賴于薄膜和顏色...

詳細(xì)摘要： 日本sasaki koki半導(dǎo)體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22OZUMA 更新了用于半導(dǎo)體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬...

詳細(xì)摘要： 日本olympus磁性測厚儀Magna-Mike 8600瑪格納-麥克8600是一個簡單的磁性測厚儀，可以重復(fù)地測量非磁性材料以高準(zhǔn)確度的壁厚。操作非常簡單，小...

詳細(xì)摘要： 日本olympus超聲波測厚儀38DL PLUS創(chuàng)新的 38DL PLUS 預(yù)示著超聲波測厚儀的新時代。該手持式測厚儀適用于大多數(shù)超聲波壁厚測量的檢測應(yīng)用，可與...

詳細(xì)摘要： 日本olympus超聲波測厚儀 45MG45MG是一款高性能超聲波測厚儀，除了標(biāo)準(zhǔn)的腐蝕測厚功能外，還支持各種軟件選項(xiàng)的精密測厚。它是一種一體化解決方案，通過支...

詳細(xì)摘要： 日本olympus超聲波測厚儀27MG超聲波測厚儀27MG可以從一側(cè)準(zhǔn)確測量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設(shè)備結(jié)構(gòu)的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體...

詳細(xì)摘要： 日本YAMABUN山文電氣適用于鋼板和鋁板等的臺式測厚儀TOF-M測量切割成條狀的鋼板和鋁板等金屬板的厚度波動通過自動傳輸機(jī)制實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量重復(fù)性測量數(shù)據(jù)可自動...

詳細(xì)摘要： 日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S實(shí)現(xiàn)高測量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）不易受溫度變化的影響可...

詳細(xì)摘要： 日本YAMABUN山文電氣軟膜和薄膜的臺式電容式測厚儀TOF-C2高測量分辨率由于它是非接觸式，因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。即使表面狀況粗糙，也可以進(jìn)...

詳細(xì)摘要： 日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001模型TOF-6R001測量方法接觸式/線性規(guī)測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等...

詳細(xì)摘要： 日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-5R01簡單快速的離線厚度測量測量數(shù)據(jù)實(shí)時顯示在屏幕上測量數(shù)據(jù)可自動保存在個人電腦上由于是自動運(yùn)輸測量，測...

詳細(xì)摘要： 日本YAMABUN山文電氣臺式離線接觸式測厚儀TOF-4R05簡單快速的離線厚度測量測量數(shù)據(jù)實(shí)時顯示在屏幕上測量數(shù)據(jù)可自動保存在個人電腦上

詳細(xì)摘要： 日本g-freude非接觸式鏡片中心厚度測量機(jī)CT-Gauge距離最初的模型已經(jīng)過去了五年。在那段時間里，我們克服了許多問題，?對機(jī)械和軟件進(jìn)行了全面改進(jìn)，進(jìn)一...

詳細(xì)摘要： 日本futec X射線桌面測厚儀AccureX jr通過采樣和質(zhì)量控制檢查進(jìn)行厚度測量很麻煩，但精度卻很差……使用jr。，您可以輕松地以驚人的高精度測量厚度！

詳細(xì)摘要： 日本futecX射線測厚儀AccureX3它是通過X射線透射法測量的厚度的儀器。測量參考樣品的X射線吸收系數(shù)，并測量由于X射線透射率的變化引起的相對厚度。它也可...