Q8381光譜分析儀愛德萬Advantest廠家描述

Q8381光譜分析儀愛德萬Advantest廠家描述

描述：Advantest Q8381A光譜分析儀
Q8381A的規(guī)格概覽

-波長范圍：350nm至1750nm
-動態(tài)范圍：40 dB或更高（與峰值波長的水平差為±1 nm）
-波長精度：±0.5 nm（23±5°C），1.0 nm（10至40°C）
-波長重復(fù)性：0.1 nm或更小（在一分鐘重復(fù)掃描中）
-偏振相關(guān)性：±0.1 dB或更小

附加信息
-波長分辨率：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0 nm
-電平精度：±1.5 dB或更小（在0.633、1.31和1.55 µm的波長下）
-電平線性度：±0.5 / 20 dB，±1.0 / 40 dB
-掃描時間：0.8秒或更短（跨度為200 nm或更短）

Q8381A是一款光譜分析儀，適用于廣泛的應(yīng)用，包括光源評估，光學(xué)設(shè)備中損耗波長特性的測量以及WDM系統(tǒng)的波形分析。

描述：Advantest Q8381A光譜分析儀
Q8381A的規(guī)格概覽

-波長范圍：350nm至1750nm
-動態(tài)范圍：40 dB或更高（與峰值波長的水平差為±1 nm）
-波長精度：±0.5 nm（23±5°C），1.0 nm（10至40°C）
-波長重復(fù)性：0.1 nm或更小（在一分鐘重復(fù)掃描中）
-偏振相關(guān)性：±0.1 dB或更小

附加信息
-波長分辨率：0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、5.0 nm
-電平精度：±1.5 dB或更小（在0.633、1.31和1.55 µm的波長下）
-電平線性度：±0.5 / 20 dB，±1.0 / 40 dB
-掃描時間：0.8秒或更短（跨度為200 nm或更短）

Q8381A是一款光譜分析儀，適用于廣泛的應(yīng)用，包括光源評估，光學(xué)設(shè)備中損耗波長特性的測量以及WDM系統(tǒng)的波形分析。