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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 醫療衛生,食品,電子,汽車,綜合 |
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特 長
薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析
高性能的低價光學薄膜量測儀
藉由反射率光譜分析膜厚
完整繼承FE-3000機種90%的強大功能
無復雜設定，操作簡單，短時間內即可上手
線性小平方法解析光學常數（n:折射率、k:消光系數）
測量項目
? 反射率測量
?膜厚解析（10層）
?光學常數解析（n：折射率、k：消光系數）
產品簡介
詳細介紹
產品信息 特 長 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無復雜設定，操作簡單，短時間內即可上手 線性小平方法解析光學常數（n:折射率、k:消光系數） 測量項目
產品規格
選配功能 |
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※1 請于本公公司聯系聯系我們
※2 對比VLSI標準樣品（100nm SiO2/Si），范圍值同保證書所記載
※3 測量VLSI標準樣品（100nm SiO2/Si）同一點位時之重復再現性。（擴充系數2.1）
應用范圍
半導體晶圓膜（光阻、SOI、SiO2等）
光學薄膜（OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等）
測量范例
PET基板上的DLC膜
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