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線掃描膜厚儀離線型

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  • 線掃描膜厚儀離線型
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2020-06-12 16:24:38瀏覽次數:1144

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產品簡介

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣
線掃描膜厚儀離線型采用線掃描方式可同時測量500點膜厚,實現全寬測量。作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援。

詳細介紹

線掃描膜厚儀離線型

產品信息

特點

·全面·高速·高精度進行薄膜等面內膜厚不均一性檢測

·硬件·軟件均為創新設計

·作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援

·實現高精度測量

·實現高速測量(500萬點以上/分)

式樣

測量位置膜厚(FFT)
位置分解能1mm以下
測量尺寸大250mm寬×無限長度限制
波長范圍400~920nm
各單元的波長范圍約0.6nm
膜厚測量范圍2~250μm
測量間隔100msec~
裝置尺寸W600×D680×H1250mm

 

測量例

250mm寬的薄膜案例

 

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