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嵌入式膜厚檢測儀

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  • 嵌入式膜厚檢測儀
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 FE-3
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2020-06-12 16:14:31瀏覽次數:906

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產品簡介

產地類別 進口 價格區間 20萬-50萬
應用領域 醫療衛生,化工,電子,印刷包裝,電氣
嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜!通過光纖靈活構筑測量系統。支持遠程測量、多點測量。

詳細介紹

嵌入式膜厚檢測儀 FE-3

嵌入式膜厚檢測儀可高精度測量具有波長依存性的多層膜!

 

產品信息

特 點

•采用分光干涉法

•搭載高精度FFT膜厚解析系統

•使用光學光纖,可靈活構筑測量系統

•可嵌入至各種制造設備。

•實時測量膜厚

•可對應遠程操作、多點測量

•采用壽命長、安全性高的白色LED光源

測量項目

·多層膜厚解析

用 途

•光學薄膜(超硬涂層、AR薄膜、ITO等)

•FPD相關(光刻膠、SOI、SiO2等)

設備構成

單點型

•半導體晶圓的面內分布測量

•玻璃基板的面內分布測量

多點型

•實時測量

•流向品質管理

•真空室適用

導線型

•實時測量

•寬度方向品質管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

 

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