目錄:北京睿信捷環(huán)?？萍加邢薰?/a>>>分析儀器>>氣體分析儀>> RG310P 型紅外氣體分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 綜合 |
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【RG310P 型紅外氣體分析儀】
RG310P 系列紅外氣體分析儀是我公司針對環(huán)境監(jiān)測、工業(yè)現(xiàn)場排放氣體 分析自主研發(fā)的紅外氣體分析儀。該分析儀主要測量 CO、CO2、N2O、CH4 和 O2 等 氣體濃度，具有測量精度高、穩(wěn)定性和可靠性高、響應時間快等特點。
【RG310P 型紅外氣體分析儀應用場合】
l 煙氣排放檢測（分析 CO 、CO2 、N2O 、CH4 、O2）
l 溫室氣體檢測（分析 CO2 、N2O 、CH4）
l 機動車尾氣排放檢測（分析 CO 、HC 、CO2）
【特點】
l 采用單光束雙波長技術，與傳統(tǒng)的 NDIR 相比，無需濾光輪，系統(tǒng)穩(wěn)定可靠
l H2O 干擾扣除，實時測量 H2O 濃度修正 H2O 對其余測量組分的干擾
l 使用多次反射氣室，儀器檢測下限低
l 儀器內部溫控精度高，環(huán)境適應性好
l 光源采用 MEMS 紅外輻射光源，電調制無需斬波輪
l 無光學運動部件，無切光輪、濾光輪、干涉儀等光學運動部件，可靠性高
l 模塊化設計，光源、核心電路、氣體室、氧傳感器、溫度控制單元等采用
l 模塊化設計，可靠性高、可擴展性好、維護方便
【技術規(guī)格】
項目 | 規(guī)格 | 說明 |
CO 測量范圍 | （0～ 100）ppm | 量程可擴展 |
CO2 測量范圍 | （0～25）% | 量程可擴展 |
N2O 測量范圍 | （0～25）ppm | 量程可擴展 |
CH4 測量范圍 | （0～500）ppm | 量程可擴展 |
HC 測量范圍 | （0～500）ppm | 量程可擴展 |
O2 量程 | （0～25）% |
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檢出限 | ≤1% F.S. |
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示值誤差 | ≤±2% F.S. |
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重復性 | 不大于 2% |
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穩(wěn)定性 | 不大于 2% |
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建議流量 | （2～3）L/min |
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零點漂移 | ±2%F.S. (24 hour) | @100ppm |
量程漂移 | ±2%F.S. (24 hour) |
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響應時間 | 不大于 60s | @2L/min |
環(huán)境溫度變化影響 | 不超過±2%F.S. |
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供電電壓變化影響 | 不超過±0.5%F.S. |
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干擾成分影響 | CO2 對 CO<±1%F.S |
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CO2 對 N2O<±1%F.S |
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CO、N2O 交叉干擾<±1%F.S |
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H2O 對 CO2 <0.2% |
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H2O 對 CO 不大于 0.5ppm |
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H2O 對 N2O 不大于 0.2ppm |
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H2O 對 CH4 <1ppm |
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平行性 | ≤2% |
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工作環(huán)境溫度 | 15～35°C | 推薦 |
模擬量 I/O | 6 路帶隔離 4-20mA 輸出 |
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數(shù)字量 I/O | 6 路數(shù)字輸入(5-24V) 7 路繼電器輸出 |
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串口 | 1 RS232 1 RS485 |
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環(huán)境濕度 | ≤98% |
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電源/功率 | 220VAC±10%， 100W |
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預熱時間 | 90-120min |
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外形尺寸 | 480mm(D)x306mm(W)133mm(H) |
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重量 | 10KG |
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l Beer-Lambert 定律
圖 1 氣體吸收過程
I(λ) = I0(λ) * e-σ(λ)CL
式中：
I0(λ)-------波長為 λ 的光的入射光強度；
I(λ)---------波長為 λ 的光的出射光強度；
σ(λ) ---------氣體在波長 λ 處的吸收截面；
e -------------待測氣體濃度；
L --------------氣體與光的作用長度（氣體池有效長度）；
Beer-Lambert 定律是物質濃度光學定量分析的基礎，表征了物質對特定波長光的吸收 情況。可以看出在吸收截面和光程長已知的情況下， 通過測量入射光強度和出射光強度即可 計算出對應氣體的濃度。
l CO2 、CO 、N2O 、CH4 等氣體紅外吸收截面
圖 2 紅外吸收截面
CO2 、CO、N2O 和 CH4 在（3000～5000）nm 范圍內均有明顯的特征吸收譜線，因 此可以用紅外光譜法同時測量這四種氣體。
l 單光束雙波長技術
單光束雙波長技術使用一條光束照射到多通道探測器上，對于某種特定的待測物質 其中一個通道為測量通道，另一通道為參考通道。測量通道對應的波長為待測物質有吸 收的區(qū)域，參考通道對應的波長為待測物質及背景氣體無吸收的區(qū)域。
通過測量通道和參考通道的參比，可以消除光源能量波動和探測器整體特性變化帶 來的影響。
圖 3 單光束雙波長技術
2 光路結構
圖 4 分析儀光路結構
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