高精度紫外波段偏振態測量（斯托克斯參數測量）系統（180nm-200nm）

深紫外偏振態測量儀   光刻機偏振態測量儀   193nm偏振態測量儀

Hinds公司長期以來致力于偏振態測量研究，在紫外波長（180nm-200nm）范圍內基于雙PEM（光彈調制器）的偏振測量系統為量化光的斯托克斯參數提供精度與靈敏度。該科研級高精度stokes測量系統可實現每秒超100組標準化斯托克斯參數集獲取。一次測量生成4個斯托克斯參數。該系統在光學元件表征、光學系統光束輸出表征、天文學、光纖制造、光源和激光質量控制等方面具有廣泛的應用。

該系統采用了Hinds公司自研光彈性調制器(PEM)技術，提供了目前超高水平的偏振測量。此外，PEM提供高速操作，根據所需波長在37至100khz之間調制。PEM光彈調制器基于諧振調制，該系統能夠提供完整的斯托克斯測量沒有移動部件，因此在精度和重復性方面高出市面現有偏振態測量系統一個數量級。本系統可根據用戶使用需求定制波長，除可見光外可實現紫外波段光的偏振態及完整斯托克斯參數測量。

深紫外斯托克斯偏振態測量儀產品參數

（波長范圍：180nm-200nm）：

• 斯托克斯參數準確wu差：1%

• 斯托克斯參數靈敏度：0.0005

• 重復率：3σ≤0.01

（波長范圍：200nm-400nm）：

• 斯托克斯參數準確wu差：0.5%

• 斯托克斯參數靈敏度：0.0005

• 重復率：3σ≤0.0035

深紫外斯托克斯偏振態測量儀產品應用

• QC測試和測量表征

• 材料醫藥開發和質量控制

• 光學旋轉

• 電信設備制造業

• SOP、DOP測量

• 天文測量

• 自由空間和光纖的選擇測量光譜應用

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