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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2023-05-19 15:48:35瀏覽次數(shù):381次
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IXplore Standard 研究級(jí)顯微鏡系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,化工,地礦,制藥 |
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原子力顯微鏡探針(AFM探針),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。在表面科學(xué)、納米技術(shù)領(lǐng)域、生物電子等領(lǐng)域,逐漸發(fā)展成為重要的、多功能材的材料表征
布魯克(BRUKER)探針為您當(dāng)前的應(yīng)用提供所需的結(jié)果,同時(shí)也能為將來(lái)的研究提供參考數(shù)據(jù)。
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