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SediGraph III Plus 5125全自動X光沉降粒度分析儀可靠且成熟的粒度分析儀在過去的 50 多年,是全球沉降粒度分析領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)斯托克斯定律確...
AccuPyc 氣體比重瓶法密度儀無需苦尋過去的測量結(jié)果,也無需擔(dān)心方法的設(shè)置過時(shí)。 MIC Net 的儀器對儀器網(wǎng)絡(luò)模式能夠分享、保存不同儀器間的結(jié)果和方法,...
英國HEL全自動費(fèi)氏粒度測試儀SAS在經(jīng)典工具的基礎(chǔ)上進(jìn)行更新后,SAS作為產(chǎn)品粒徑控制工具,替代FSSS法廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域。SAS使用現(xiàn)代機(jī)電一體化原理和簡...
麥克默瑞提克 SediGraph III PLUS 全自動 X 光沉降粒度分析儀在過去的四十多年中,麥克公司的 SediGraph 是*眾多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)...
HORIBA-01激光粒度儀HORIBA 隆重推出高級粒徑測量儀器激光粒徑分布分析儀 Partica LA-960V2LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫...
麥克默瑞提克 Gemini VII2390 全自動快速比表面積與孔隙度分析儀比表面積和孔隙度是影響許多材料和產(chǎn)品的質(zhì)量和用途的兩個重要的物理性質(zhì),因此精確測定、...
麥克默瑞提克 TRISTAR II PLUS 比表面積與孔隙度分析儀快速精確的比表面積測量TriStar II Plus是一款自動化分析并帶有三個分析站的比表面...
ParticleTrack G600/G600 Ex在中試和生產(chǎn)中監(jiān)控粒度和粒數(shù)采用 FBRM 技術(shù)的 ParticleTrack G600 是直接插入到大型容...
在實(shí)驗(yàn)室中研究顆粒粒徑和粒數(shù)采用 FBRM 技術(shù) 的 ParticleTrack G400 是直接插入到實(shí)驗(yàn)室反應(yīng)器中的探頭式儀器,以便在全工藝過程濃度下實(shí)時(shí)追...
在線顆粒成像分析儀, EasyViewer 400實(shí)時(shí)觀察和測量顆粒.EasyViewer 400系統(tǒng)配置新的實(shí)驗(yàn)洞見采集原位存在的顆粒的高分辨率圖像,實(shí)現(xiàn)先前...
在線顆粒成像分析儀 EasyViewer 100 System實(shí)時(shí)觀察和測量顆粒.EasyViewer 100系統(tǒng)配置新的實(shí)驗(yàn)洞見采集原位存在的顆粒的高分辨率圖...
WKL-708 智能顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD...
WKL-722 粉塵形貌分散度測試儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合,由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過...
WKL-728 智能粉塵形貌分散度測試儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)相結(jié)合,由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、觸摸式電腦和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)...
WKL-702 顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像...
WBL-810/ 820/ 830 全自動比表面積及孔隙度分析儀依據(jù)靜態(tài)容量法測量原理,通過質(zhì)量平衡方程、靜態(tài)氣體平衡和壓力測定來測試吸脫附過程,測試過程在液氮...
WJL-501噴霧激光粒度儀采用夫瑯和費(fèi)衍射原理和全量程米氏( Mie)散射理論專門設(shè)計(jì)開發(fā)的一款激光粒度分析儀。可實(shí)時(shí)測量霧滴粒度分布,激光器具有單色性好、相...
WJL-500 噴霧激光粒度分析儀采用全量程米氏( Mie)散射理論,專門設(shè)計(jì)開發(fā)的一款激光粒度分析儀,適用于口腔噴霧劑、氣霧劑等行業(yè)的粒度分布測量。可實(shí)時(shí)測量...
WJL-632/ WJL-636/ WJL-638 全自動激光粒度儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)大小不同的顆粒在...
WJL-622 / WJL-626 / WJL-628 干法、濕法兩用激光粒度分析儀采用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質(zhì)的折射率等光學(xué)性質(zhì),根據(jù)...
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