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瓦里安電感耦合等離子體發射光譜儀VISTA-MPX介紹：

Vista MPX ICP-MPX 瓦里安新一代全譜直讀等離子體發射光譜 ICP-MPX能分析的元素 多道光譜儀 多道ICP 單道掃描ICP 優點: 速度快 靈活 效率高 易于建立方法 缺點: 死板 速度慢, 消耗成本高 扣背景不準確 精度較差 共同缺點: 背景和信號不能同時測定, 存在時間誤差 扣背景速度慢 Echelle optics 光學原理 Echellogram Continuous spectrum 連續式光譜 全譜直讀的檢測器單元 ——固體檢測器 目前在ICP-MPX中所使用的固體檢測器都是光敏半導體檢測器，有：CID和CCD CID （電荷注入型檢測器）：量子化效率低，噪音比CCD高，多年來在硬件上無防溢出設計,因此存在嚴重的溢出問題 CCD（電荷耦合型檢測器）：技術非常成熟，廣泛用于數碼技術上；已有多個廠家用于ICP-MPX的使用上；可靠的防溢出設計 因為是多個單元的光敏半導體材料，故都存在溢出問題：即當某個單元的光強度特別高時，產生的大量電荷來不及被讀出，從而導致流到其它單元，使其它單元得到錯誤的結果。 瓦里安新一代全譜直讀等離子體發射光譜 Vista MPX ICP-MPX Vista MPX 功能特點 *個檢測器象素突破百萬的全譜直讀ICP 是分析速度較快的ICP光譜儀,測定一個樣品無論多少元素僅需50秒。 堅固可靠、直接耦合40MHz的高頻發生器,即使是高鹽或有機樣品也能保證穩定炬焰，不易熄火、不易積鹽 高分辨率、高光通量的光學系統 的整體分析性能高靈敏度、低檢出限，短期精度優于0.5%，長期精度 RSD <1% (20小時） 功能強大、使用較方便的工作站軟件--ICP光譜分析的專家 片段式CCD （SCD） CID (Charge Injection Device) CCD 器件在光學儀器中的應用 孫 長 明 上海光學儀器研究所 〔摘要〕近年來CCD應用技術的發展尤為引人注目，CCD器件已顯示了突出的功效，在光學儀器領域得到廣泛的應用。

瓦里安電感耦合等離子體發射光譜儀VISTA-MPX配置：