（大量程）激光粒度儀 造紙激光粒度儀 顏料激光粒度儀

型號(hào)：JC09-JL-1197

    JL-1197型大量程激光粒度儀是成都精新公司推出的新一代粒度儀，儀器參照ISO13320、ISO13321等標(biāo)準(zhǔn)，利用光子相關(guān)光譜法、全量程Mie 散射2種原理，推算測(cè)量顆粒粒度分布。可分別同時(shí)采用兩種方式測(cè)試，達(dá)到*測(cè)量精度。主要針對(duì)粉體顆粒進(jìn)行粒度分析，zui大特點(diǎn)是粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬，重復(fù)性好。

一、（大量程）激光粒度儀 造紙激光粒度儀 顏料激光粒度儀    適用范圍

納米段：納米涂料、油墨、納米電子材料、納米金屬粉、納米陶瓷、納米氧化物、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、油漆、顏料以及其它所有納米材料研究、生產(chǎn)與使用等行業(yè)干粉、乳液的粒度分布測(cè)試。

微米段：化工材料、電子材料、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、磨料、醫(yī)藥、涂料、水泥、食品、農(nóng)藥、碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、金剛石、氧化鋁、稀土、催化劑、硅灰石、電氣石、云母、重晶石、鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉、發(fā)泡劑、石墨、顏料等各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測(cè)試。

二、     儀器性能

測(cè)試范圍：1nm～2000μm

納米段：測(cè)試1nm～10000nm，采用光子相關(guān)光譜法；

微米段：測(cè)試0.02μm～2000μm，采用全量程Mie 散射；

分段量程：根據(jù)被測(cè)樣品實(shí)際粒徑狀態(tài)，菜單選擇納米段、微米段或全量程段測(cè)試。不同量程范圍的測(cè)試，點(diǎn)擊控制鍵后自動(dòng)完成轉(zhuǎn)換，不需更換部件。

信號(hào)光源：波長(zhǎng)0.6328μm 雙半導(dǎo)體激光器光源，穩(wěn)定性好，使用壽命長(zhǎng)。

檢測(cè) 器：80級(jí)多元檢測(cè)器，高增益低噪聲光電倍增管，雙管路檢測(cè)。

測(cè)試精度：微粉級(jí)D50測(cè)試重復(fù)性誤差≤±1％（國(guó)家標(biāo)樣）。

進(jìn)樣系統(tǒng)：配有微量靜態(tài)樣品池、循環(huán)進(jìn)樣池2種，可選擇使用。

測(cè)試軟件：可在Windows XP/ Windows 7（32位）系統(tǒng)下運(yùn)行，軟件有中、英文版本，測(cè)試界面友好，菜單提示完整，操作簡(jiǎn)便。

結(jié)果輸出：結(jié)果顯示粒度分布表格和曲線圖，并有D10、D50、D90、D97、平均粒徑和比表面積等數(shù)據(jù)及粒徑分布曲線。測(cè)試結(jié)果可以直接顯示、保存和打印，也可以轉(zhuǎn)換為圖像文件和文本文件等格式。

工作電源：AC220V ±10％　50Hz 功率：300W

環(huán)境要求：使用環(huán)境應(yīng)清潔，溫度：0-40℃

儀器外形尺寸：長(zhǎng)880mm  寬410mm  高500mm   儀器重量：90kg

三、儀器特點(diǎn)

1、該款儀器*繼承了JL系列產(chǎn)品的所有技術(shù)特點(diǎn)，并有所創(chuàng)新。儀器功能強(qiáng)大，既能測(cè)試納米級(jí)粉體又能測(cè)試微米級(jí)粉體，兩種測(cè)試功能只需點(diǎn)一下鼠標(biāo)，幾秒鐘就實(shí)現(xiàn)快捷轉(zhuǎn)換。

2、該儀器粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬，重復(fù)性好，操作簡(jiǎn)單方便。設(shè)計(jì)的探測(cè)器陣列，保證了各種粒度顆粒散射信號(hào)的有效接收，從而保證了對(duì)寬分布的樣品測(cè)量結(jié)果更為準(zhǔn)確。

3、儀器集光學(xué)、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環(huán)、全自動(dòng)清洗一體化，電腦控制下自動(dòng)對(duì)中校零。測(cè)試時(shí)樣品在管道內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短，避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚，從而保證儀器重復(fù)性、穩(wěn)定性好。

4、具有2種進(jìn)樣系統(tǒng)可選，滿足您的各種測(cè)試需求。2種進(jìn)樣系統(tǒng)能方便地互換，包括普通型、微量型。

5、用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同的數(shù)據(jù)處理方法和分布模型。

6、儀器包含多種分布模式，有自由分布、對(duì)數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等，可以滿足不同樣品的測(cè)試和對(duì)比的需要。