上海量博實業有限公司
主營產品: 粗糙度輪廓儀,圓柱度測量儀,CORNING平面度測量儀,ROMER關節臂三坐標,軼諾INNOVATEST布洛維氏硬度計 |
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- 200131
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- www.labgages.com
參考價 | 面議 |
- 型號 Renishaw TP200
- 品牌 RENISHAW/英國雷尼紹
- 廠商性質 經銷商
- 所在地 上海市
更新時間:2017-12-22 00:55:49瀏覽次數:1443
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英國雷尼紹Renishaw TP200觸發式三坐標測頭系統
TP200觸發式三坐標測頭系統組件包括:• TP200或TP200B測頭本體(TP200B為另一款,允許更大振動公差) TP200三坐標測頭系統特性與優點• 應變片技術具有*的重復性和的三維輪廓測量 | |
TP200 / TP200B測頭本體TP200采用微應變片傳感器,實現優異的重復性和的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。 |
Renishaw TP200三坐標測頭技術規格:
摘要 | TP200 | TP200B |
主要應用 | 需要高精度的數控坐標測量機。 | 與TP200一樣,但當出現誤觸發事件時。 |
傳感器方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
單向重復性 (2s µm) | 觸發水平1:0.40 µm | 觸發水平1:0.40 µm |
觸發水平2:0.50 µm | 觸發水平2:0.50 µm | |
XY(2D)輪廓形式測量偏差 | 觸發水平1:±0.80 µm | 觸發水平1:±1 µm |
觸發水平2:±0.90 µm | 觸發水平2:±1.2 µm | |
XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 觸發水平1:±1 µm | 觸發水平1:±2.50 µm |
觸發水平2:±1.40 µm | 觸發水平2:±4 µm | |
測針交換的重復性 | SCR200:±0.50 µm(zui大) | SCR200:±0.50 µm(zui大) |
手動:±1 µm(zui大) | 手動:±1 µm(zui大) | |
測力(測尖) | XY平面(所有模塊):0.02 N | XY平面(所有模塊):0.02 N |
Z軸(所有模塊):0.07 N | Z軸(所有模塊):0.07 N | |
超程測力(位移為0.50 mm時) | XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N | XY平面(SF/EO模塊):0.2 N至0.4 N |
XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N | XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N | |
Z軸(SF/EO模塊):4.90 N | Z軸(SF/EO模塊):4.90 N | |
Z軸(LF模塊):1.60 N | Z軸(LF模塊):1.60 N | |
重量(測頭傳感器和模塊) | 22 g | 22 g |
zui長加長桿(如配在PH10系列測座上) | 300 mm | 300 mm |
推薦的zui大測針長度(M2測針系列) | SF/EO模塊:50 mm鋼質至100 mm GF | SF/EO模塊:50 mm鋼質至100 mm GF |
LF模塊:20 mm鋼質至50 mm GF | LF模塊:20 mm鋼質至50 mm GF | |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI200、UCC | PI200、UCC |
測針模塊交換架 | 自動:SCR200 | 自動:SCR200 |
手動:MSR1 | 手動:MSR1 | |
測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊:
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭超程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程測力。
模塊 | SF(標準測力) | LF(低測力) | EO(長超程) |
應用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用zui小測力的場合。 | 額外超程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
備注 | 測針zui長可達100 mm,測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的超程測力相同。 測頭Z軸的額外超程為8 mm。 |
雷尼紹SCR200測頭交換架:
SCR200可對zui多六個TP200測針模塊進行自動高速交換。SCR200由獨立的測頭接口 — PI200供電,并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標準測力組件,每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。 SCR200交換架規格: 高度:190mm; 寬度:245mm。 |
測針模塊交換:
TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能,生產效率更高,并且總能選擇應用的測量系統。
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