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X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地

更新時(shí)間：2023-10-18 16:07:15瀏覽次數(shù)：793次

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品牌：菲希爾樣品電大高度：140mmX/Y軸平臺移動(dòng)速度：60mm/s
  X-RAY XDV-SDD是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層側(cè)厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺，是全自動(dòng)測量樣品的理想設(shè)備。

1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；

2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；

3.黃金成分分析

4.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；

5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；

6.全自動(dòng)測量，如：用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。

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