產品概覽
Agilent HP 4155B 半導體參數分析儀提供四個內置源/監控單元 (SMU)、兩個電壓源單元 (VSU) 和兩個電壓監控單元 (VMU)。HP 4155B 具有非開爾文連接、10 V 分辨率和 100 mA/100 Ohm 測量范圍，適合基本半導體應用。
安捷倫半導體參數分析儀的其他特性和規格包括：
高分辨率/準確度和寬范圍。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1µV 至 200 V
使用直流或脈沖模式進行全自動 IV 掃描測量
可擴展至 6 個 SMU
同步壓力/測量功能
兩個高壓脈沖發生器單元 (±40 V)
時域測量：60µs – 可變間隔，最多 10,001 個點
易于使用：類似于曲線跟蹤器的旋鈕掃描
自動分析功能
自動化：內置 HP Instrument BASIC，觸發 I/O 功能
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