產品概述:
EXFO CTP10測試平臺以其模塊化設計、高分辨率與高速測量、寬波長范圍、激光器共享與可擴展性等主要特點,以及強大的功能模塊、精確的技術規格和廣泛的應用場景,在光通信測試領域具有顯著的優勢。
產品特點:
模塊化設計:CTP10采用模塊化設計,可安裝多達10個熱插拔模塊,包括用于光譜鑒定的各種關鍵模塊(如IL-RL OPM2或IL-PDL模塊)、波長控制模塊(如SCAN SYNC和FBC模塊)以及檢測模塊(如OPMx模塊)。
高分辨率與高速測量:CTP10能夠以非常高的速度和分辨率執行插損(IL)、偏振相關損耗(PDL)或回損(RL)測量,單次掃描速度可達100 nm/s,動態范圍可達70 dB以上,采樣分辨率能達到1 pm。
寬波長范圍:CTP10支持寬波長范圍的測量,覆蓋從1260 nm到1620 nm的波長,特別適用于測試高速WDM網絡中的新型大端口數光器件和光子集成電路。
激光器共享與可擴展性:CTP10內置操作系統,可處理大量的數據,并提供一個可擴展的架構,由最多8個測試站共享一個或多個可調諧激光器(如T100S-HP系列掃頻可調諧激光器),并添加一個輔助主機,以測試100多個端口。