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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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當前位置:北京恒奧德儀器儀表有限公司>>無損檢測儀器>>測厚儀>> TP-TPY-1橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀

橢圓偏振測厚儀 偏振測厚儀 測厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號TP-TPY-1

品       牌恒奧德

廠商性質生產商

所  在  地北京市

更新時間:2024-04-13 12:23:49瀏覽次數:2372次

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在近代的許多域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此,更加和迅速的測定給定薄膜的光學參數已變得更加迫切和重要。在實際作中可以利用各種傳統的方法測定光學參數,如:布儒斯角法測介質膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度、度、非破壞性測量等優點,因而,橢圓偏振法測量已在光學、半導體、生物、學等諸多域得到廣泛應用。

橢圓偏振測厚儀   偏振測厚儀   測厚儀                型號:TP-TPY-1

在近代的許多域中對各種薄膜的研究和應用日益廣泛。因此,更加和迅速的測定給定薄膜的光學參數已變得更加迫切和重要。在實際作中可以利用各種傳統的方法測定光學參數,如:布儒斯角法測介質膜的折射率,干涉法測膜厚,其它測膜厚的方法還有稱重法、X射線法、電容法、橢偏法等。由于橢圓偏振法具有靈敏度、度、非破壞性測量等優點,因而,橢圓偏振法測量已在光學、半導體、生物、學等諸多域得到廣泛應用。
 
產品點:
儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率,具有度、靈敏度以及方便測量等點;
光源采用氦氖激光器,率穩定、波長度;
儀器配有生成表、查表以及計算等軟件,方便用戶使用。
 
規格與主要標:
測量范圍:薄膜厚度范圍:1nm-300nm;      折射率范圍:1-10
測量zui小示值:≤1nm                      入射光波長:632.8nm  
光學中心:80mm                         允許樣品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm    
偏振器方位角范圍:0°- 180°讀取分辨率為0.05°
測量膜厚和折射率重復性度分別為:±1nm和±0.01
主機重量:25kg    入射角連續調節范圍:20°- 90°度為0.05°
 
成套性:主機、電控系統、計算軟件
外形尺寸:680*390*320mm
:www.51658042.com

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