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光伏光譜橢偏儀

型號：SE-SOLAR

橢圓偏振光譜儀SE-Solar專為光伏（PV）應用而設計。它可以配置為覆蓋DUV到NIR范圍，可以使用手動測角儀以5度間隔改變入射角，也可以配置為自動測角儀，分辨率為0.001度。基于陣列的檢測設置可為用戶提供快速測量，每個數據只需幾秒鐘。當需要映射或實時原位測量時，這是所有SE模型中的*選擇。如果需要，可以將波長范圍擴展到1700nm，作為CdTe，CIGS薄膜表征等應用的選擇。傾斜臺，用于測量帶紋理的單晶片上的薄膜。根據需要，可以使用DUV和Vis-NIR組合光源或單個Arc Xenon光源。在產品照片中，配備了156x156mm的電動測繪臺。此外，垂直入射的反射儀也可以集成在一起。還有其他幾種選擇。如果有特殊需要，請隨時與我們聯系。我們的目標是提供一個工具，無論它是標準配置還是定制的，都可以滿足您的應用程序需求。

應用范圍：

•抗反射涂層，SiNx，SiOx ..

•CdTe，CIGS，CdS，Mo ....

•非晶，納米和晶體硅

•各種TCO膜（ITO，FTO，IZO，AZO ...）

特征：

•易于使用，基于Window的軟件進行操作

•*光學設計可實現*系統性能

•大功率DUV-VIS組合光源或Xenon Arc光源，適用于寬帶應用

•基于陣列的探測器系統可確保快速測量

•同時測量薄膜厚度和折射率

•系統附帶全面的光學常數數據庫

•*TFProbe 3.3軟件允許用戶為每張膜使用NK表，色散或有效介質近似值（EMA）

•三種不同的用戶級別控制：工程師模式，系統服務模式和簡易用戶模式

•靈活的工程師模式，適用于各種配方設置和光學模型測試

•強大的一鍵式按鈕解決方案，可進行快速和常規的測量

•可配置的測量參數，操作簡便

•全自動系統校準和初始化

•直接從樣品信號獲得精確的樣品比對接口，無需外部光學器件

•精確的高度和傾斜度調整

•適用于許多不同類型，厚度不同的基材

•各種選件，附件可用于特殊配置，例如測繪臺，波長擴展，焦點等。

•2D和3D輸出圖形和用戶友好的數據管理界面

系統配置：

型號：SE-SR-太陽能（映射階段是可選的）

探測器：探測器陣列

光源：大功率DUV-Vis-NIR組合或氙弧燈光源

入射角變化：手動

階段：使用XY配置自動映射

軟件：TFProbe 3.3

電腦：Intel i3處理器或更高配置

顯示器22英寸寬屏LCD

功率：110– 240 VAC / 50-60Hz，6 A