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SuperViewW1白光干涉儀測三維形貌儀PX 5183
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F54-Filmetrics膜厚測量儀PX 3106
華中行校準校驗數(shù)顯控制器PX 0
F10-AR-Filmetrics膜厚測量儀PX 3106
F10-HC-Filmetrics膜厚測量儀PX 3106
F10-RT-Filmetrics膜厚測量儀PX 3106
F60-Filmetrics膜厚測量儀PX 3106
F50-Filmetrics光學薄膜厚度測量儀PX 3106
F40-Filmetrics膜厚測量儀PX 3106
MProbe NIR反射膜厚儀PX 3014
MProbe UVVisSR反射膜厚儀PX 3014
FSM 413 EC晶圓厚度測量系統(tǒng)PX 3014
MProbe RT反射膜厚儀PX 3014
MProbe MSP顯微反射膜厚儀PX 3014
MProbe系列反射膜厚儀PX 3014
Zeta388光學輪廓儀 Zeta-388PX 0
Zeta300光學輪廓儀 Zeta-300PX 0
Zeta20光學輪廓儀 Zeta-20PX 0
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白光干涉3D顯微測量儀
納米級白光干涉三維形貌分析測量儀
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Sensofar 集成式3D白光干涉共聚焦測量頭
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FWS 涂層厚度與膜重測試站
ACS 金屬罐涂層厚度和膜重測量系統(tǒng)
增強型實驗室涂層厚度測量系統(tǒng)
Thetametrisis膜厚測量儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
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