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日本YAMADA檢測燈山田光學YP-250I原理

來源:湖南中崎科技有限公司   2024年05月11日 15:09  

YAMADA山田光學 檢測燈 YP-250I

高亮度鹵素光源

該照明裝置可檢測各種缺陷如半導體晶片芯片和液晶基板的劃痕,不均勻拋光,霧度,表面灰塵,滑移等可照明樣品表面范圍為400,000Lux以上,是一種用于宏觀觀察的照明裝置。半導體行業,液晶面板行業等都適用

日本YAMADA檢測燈山田光學YP-250I原理

總結

1.樣品表面可照亮400,000Lx以上。

2.采用鹵素燈作為光源,因此色溫高,照明不均勻度小,照明
非常穩定銳利。

3.使用冷鏡的散熱效果
極低,是傳統鋁鏡的1/3。

4.兩級切換機制
,只需輕輕一按即可在高照度觀察和低照度觀察之間切換。
YP-2I???照度范圍φ150 YP-30I?照度范圍φ250

YP-60I可在螺旋槳風扇型和風管風扇型之間進行選擇。 )

日本YAMADA檢測燈山田光學YP-250I原理

日本YAMADA檢測燈山田光學YP-250I原理

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