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納米粒度電位儀可檢測納米顆粒的哪些特性?

來源:丹東百特儀器有限公司   2022年01月19日 08:45  
納米顆粒通常是指三維尺寸都處于納米尺度范圍(1nm-100nm)的粒子。
納米材料是指在三維空間中至少有一維處在納米尺度范圍(1nm-100nm)或由他們作為基本單元構(gòu)成的材料。

由于納米材料是由相當于分子尺寸甚至是原子尺寸的微小單元組成,也正因為這樣,納米材料具有了一些區(qū)別于相同化學(xué)元素形成的其他物質(zhì)材料特殊的物理或是化學(xué)特性例如:其力學(xué)特性、電學(xué)特性、磁學(xué)特性、熱學(xué)特性等,這些特性在當前飛速發(fā)展的各個科技領(lǐng)域內(nèi)得到了應(yīng)用。

BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開發(fā)的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布、Zeta電位、高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析、質(zhì)量控制用途。

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