FISCHERSCOPE XULM X射線熒光測試儀特點：

X射線熒光測試儀，可在微小樣品上測量鍍層厚度(包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等)和進行材料分析

XULM鍍層厚度測量儀的特點

• 用途廣泛的鍍層厚度測量儀，包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等。
• 通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.
• 配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點。
• 比例計數器可實現數千cps（每秒計數率）的高計數率。
• 從下*的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
• 底部C型開槽的大容量測量艙  。

菲希爾FISCHERSCOPE XULM X射線熒光測試儀典型應用領域

• 測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
• 電子行業中接插件和觸點上的鍍層
• 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
• 電鍍鍍層，如大規模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠寶和鐘表工業。
• 測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚。

        對于FISCHERSCOPE?X-RAYXUL和XULM系列來 說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣 可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口 也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操 作，特別是在日常生產中測量大量部件時特別有 用。 盡管結構緊湊，但這些儀器都有大容量的測量 室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設計 （C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整 的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量 室。
        樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度 更高的手動XY工作臺上。 XUL和XULM都配備了比例接收器；但是它們配 備的X射線管，濾片和準直器是不同的。便宜耐 用的XUL配備了一個準直器和一個固定的濾片。 內置的標準X-RAY管產生的基本射線光束較大； 因此***小可用的準直器為0.3 mm。基于光線的 擴散，***小的測量點在0.7 mm – 1mm左右。
        XULM適合測量小的結構。它配備了微聚焦管， 測量點***小可達約100μｍ，同時比例接收器仍 然可以保持相對高的計數率。即使很短的測量時 間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配 備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地 為不同的測量應用創造非常好的激勵條件。

        應用實例：

        菲希爾FISCHERSCOPE XULM X射線熒光測試儀特別適合測量細小的部件如連接器，觸點 或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu 鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用 測量點為?0.25mm的準直器測量，20秒的重復 精度可達2.5nm。
        特征
        帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口 和鎢靶的微聚焦X射線管。
        工作條件:50KV,50W X射線探測器采用比例接收器
        準直器：固定或4個自動切換，0.05 x 0.05 mm 到 ? 0.3 mm 基本濾片：固定或3個自動切換 測量距離可在0-27.5mm范圍內調整 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量 位置。刻度線經過校準，顯示實際測量點 大小。 設計獲得許可，防護全面，符合德國X射 線條例第4章第3節

        典型應用領域
        線路板行業Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB 等鍍層的測量 電子行業接插件和觸點的鍍層測量 electronics industry 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS 批量生產部件（螺絲和螺母）防腐鍍層測 量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe 珠寶和手表行業 測定電鍍槽中的金屬含量

　　X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器。