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平面材料漫反射率與透射率測量系統Omni-DR600
  • 平面材料漫反射率與透射率測量系統Omni-DR600
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貨物所在地:北京北京市

更新時間:2024-10-08 21:00:07

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平面材料漫反射率與透射率測量系統Omni-DR600結構與Omni-DR300 相同,但系統測試光為由下至上8 度角聚焦光路,樣品盛放裝置為160x160mm 平臺,方便放置各類平面待測物,如各類功能性布料。同時,系統整合透過率測量探測器,可測量厚度為5mm 以下的各類透光材料,可將各類透光器件的漫反射率與透過率測量整合成一體。

平面材料漫反射率與透射率測量系統Omni-DR600

本系統結構與Omni-DR300 相同,但系統測試光為由下至上8 度角聚焦光路,樣品盛放裝置為160x160mm 平臺,方便放置各類平面待測物,如各類功能性布料。同時,系統整合透過率測量探測器,可測量厚度為5mm 以下的各類透光材料,可將各類透光器件的漫反射率與透過率測量整合成一體。

光譜測量范圍:350-2500nm

光譜分辨率:2nm以下

光譜掃描步距:0.2-100nm可連續設置

波長準確度:優于±0.2nm(紫外-可見區),優于±0.5nm(近紅外區)

光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區),2%以內(近紅外區)

光度測量重復性:1% (450nm-1800nm)

測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm

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