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澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價：450000
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸...
澤攸ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價：350000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無需復雜的安裝過程。▲ 體積小巧：便于放置在普通的實驗臺面上，節省空間。▲ 高性價比：預對中鎢燈絲設計，用戶可以自行更換，降低了...
Sensofar 集成式3D高精度3D表面測量系統 參考價：700000
通過緊湊型設計和多功能性的統一結合，Sensofar 集成式3D高精度3D表面測量系統 是市面上*的可集成的區域共聚焦傳感器,S mart 2 的設計非常易于集...
Sensofar 高精度3D表面測量系統S lynx 2 參考價：800000
Sensofar 高精度3D表面測量系統S lynx 2是一款多功能、用途廣泛的3D光學輪廓儀，用于粗糙度、體積和臨界尺寸測量。
Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統 參考價：2000000
此款西班牙Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統 S neox Five Axis 結合了高精度旋轉模塊和S neox 3D光學輪廓儀的先進檢測和分析功能...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
半自動臺階儀 JS100B 參考價：面議
半自動臺階儀 JS100B 國產半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS100B...
手動臺階儀 JS10B 參考價：面議
國產手動手動臺階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS10B提供一個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變...
全自動臺階儀 JS2000B 參考價：面議
國產全全自動臺階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，...
全自動臺階儀 JS3000B 參考價：面議
國產全自動臺階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩定可靠的重復性測量。JS2000B提供兩個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準確、穩定、使用場景多樣化、完善的技術解決方案、直觀、方便、高度集成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價：面議
澤攸SEM納米探針臺產品實現了三維空間上的準確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優點，可應于SEM真空腔體內完成各種納米精度運...
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內，池內可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統 是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統 ,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統，原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06 參考價：面議
澤攸干式液氦溫區探針臺 LHe-6H-06產品特點，真空腔體：真空度優于610-4 Pa。降溫后優于610-5 Pa。留有2個用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06 參考價：面議
澤攸室溫自動探針臺 TZ-H-06，高可靠性探針臺系統，主要應用在半導體/微電子， 電子，機電，物理，化學，材料，光電，納米，微機電/MEMs，生物芯片等科學研...
澤攸液氦低溫恒溫器 參考價：面議
澤攸液氦低溫恒溫器 超低震動干式液氦光學低溫恒溫器系統，使用氣體導熱隔震，實現樣品臺納米級的機械穩定性。為有效降低環境震動影響，產品設計安裝在光學隔震平臺上。
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