日本capind六角低接觸壓力探頭IRP40.02LF
對具有高精度表面光潔度的工件進行機內測量，例如精密切割的頂面、磨光面和模具自由曲面光潔度表面正在增加。使用傳統探針（標準，高精度），當紅寶石球與工件接觸并輸出觸摸信號時，由于接觸壓力，工件上可能會留下微小的壓痕。
此外，軟材料也會因接觸壓力而導致塑性變形。與傳統產品相比，40.02LF探頭將XY方向的測量壓力降低約40%，Z方向的測量壓力

日本capind六角低接觸壓力探頭IRP40.02LF

特征

低測量壓力

探頭詳情

低接觸壓力探頭概述

• 不銹鋼機身

• 2 節電池 1 / 2AA

• 電池盒采用雙重密封結構

其他特性

• Z 碰撞檢測
  如果在 Z 方向超程，可能無法通過外觀識別。
  如果 Z 碰撞檢測超程，LED 將通過藍色閃爍通知您。

• ITE 高速移動技術
  ITE（智能觸發技術）準確判斷觸摸信號。
  判斷是由于觸控筆在高速運動的加減速過程中的慣性還是真實的觸摸信號，并過濾完成的。
  因此，跳躍進給速度最高可達 50 m/min。

• 抗噪性
  增加了檢測電噪聲和光噪聲的脈沖數量，并將檢測裕度增加到多個脈沖。
  結果，我們能夠提高抗噪性。

• 電池壽命
  連續測量800小時
  一次/2秒觸摸循環壽命

規格

可測量的方向	+/- X, +/- Y, -Z
最大測針超程	XY = +/- 12.5° Z = -5mm
測量功率	XY = 0.5N +/- 0.2NZ = 3.0N +/- 0.3N * 使用 30mm 手寫筆
推薦測量速度	最大1000mm/分鐘
電池	1 / 2AA x 2 待機壽命 12 個月
最長電池壽命	以 800 小時為周期觸摸一次 / 2 秒
材料	防銹的
重量（不包括支架）	約235g
溫度規格	操作過程中：5°C 至 55°C 儲存：5°C 至 70°C
單向重復性	0.3 μm（2σ值） 測 針長度：30 mm 速度：245 mm/min
可測量的最大密封件數	IP68 EN60529 (15m)
沖擊試驗	50Hz = 50 點/秒
共振測試	50G 7ms (5000 次) 好