Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發射出初級X射線到樣品上，通過半導體探測器檢測樣品激發出的熒光X射線，從而對樣品元素進行無損定性和定量分析。半導體探測器采用帶電動冷卻系統的硅漂移探測器（SDD），無需液氮冷卻，結合數字信號處理器（DSP），使得測試結果具有高分辨力。為了提高分析性能，良好的光學激發系統使得半導體探測器達到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。

Ourstex 100FA能量色散型X射線熒光光譜儀的X射線管發射出初級X射線到樣品上，通過半導體探測器檢測樣品激發出的熒光X射線，從而對樣品元素進行無損定性和定量分析。半導體探測器采用帶電動冷卻系統的硅漂移探測器(SDD)，無需液氮冷卻，結合數字信號處理器(DSP)，使得測試結果具有高分辨力。為了提高分析性能，良好的光學激發系統使得半導體探測器達到了很高的能量分辨率和測量靈敏度。

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀特點：

快速無損地進行成分分析

對大而/或不規則的試樣進行 

近距離分析曲面試樣 

小巧輕便，適用于現場分析

非接觸分析

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀應用：

考古調查/分析

文化資產分析

工業材料R&D評定,質量控制

高校/研究所材料研究分析

廢料鑒別

Ourstex 100FA X射線熒光光譜儀技術規格：

測定原理		能量色散型X射線熒光分析法
測定對象		固體、粉末、液體、薄膜、土壤滲出水、污水等
測定元素		11Na-92U
樣品形狀大小		封閉使用時35*35mm(直徑*高度) 開放使用時任意
發射源		X射線
樣品倉環境		大氣（真空可選）
測量范圍		約3mm直徑范圍
射線輸出		40kV-1.75mA，50W
檢測器		電子冷卻式SDD
數據處理		數字處理方式DSP（Digital Signal Processor）
軟件		自動定性分析、檢測線法定量分析、FP法定量分析（可選）
使用條件		溫度：5~27°C
		濕度：20~75%
		電源：AC 100, 5A或AC 220, 3A
		設置：D型接地線
其他附屬		噴墨式彩色打印機，鼠標等。
尺寸規格		測量頭：133*170*273mm,3.9kg XG部：320*340*80mm,9.2kg 控制器部：265*340*120mm,9kg 真空泵：190*177*132mm,3kg