詳細介紹
當只有少量樣品材料可用時,零背景支架是理想的解決方案。我們已經使用了這些小到0.7毫克的粉末,效果非常好。
插入物由以特定方向生長的硅片制成,這樣撞擊表面的x射線就不會衍射到探測器中。這使我們能夠分析這些小體積的樣品,而不會使樣品支架材料本身的特征復雜化。就好像粉末漂浮在自由的空間里。
所有板材均在KSA內部切割。我們受歡迎的尺寸有25、30和32毫米圓形。然而,我們可以根據需要切割直徑高達75毫米的板材,甚至矩形或其他奇怪的形狀。
選擇不銹鋼主體材料有一些優點,但值得注意的是,當使用較大孔徑的狹縫時,可以減少20度以下角度的散射2。大多數儀器將至少部分樣品支架主體以低角度暴露于入射光束,這使得較大的零背景板或不銹鋼主體是有益的。
對于稍大的樣品體積或受益于固定輻照表面積的應用,考慮可以研磨到表面的可選井。我們已經滿足了深度從0.1到1毫米和直徑從5到20毫米的要求,但最常見的是10x0.5毫米的井。