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BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移，進而得到體系的 Zeta 電位信息。
基本性能指標
Zata電位測試
| 原理 | 相位分析光散射技術 |
檢測角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無實際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μm.cm/V.s |
電導率范圍 | 0-260 mS/cm |
Zeta測試粒徑范圍 | 2 nm – 120 μm |
樣品量 | 0.75 mL – 1.0 mL |
趨勢測試
| 時間和溫度 |
系統參數
溫控范圍 | -15℃-110℃，精度±0.1℃ |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮氣 |
標準激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關器 | 最多 4000通道，1011動態線性范圍 |
檢測器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強控制 | 0.0001% - 100%，手動或者自動 |
軟件
中文和英文 | 符合21CFR Part 11 |
檢測參數
●Zeta 電位
●Zeta 電位分布
檢測技術
●電泳光散射
●相位分析光散射
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