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SEM高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過程中動(dòng)態(tài)時(shí)實(shí)觀測(cè)樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2021-11-05 09:48:36瀏覽次數(shù):895
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德國(guó)SEM 臺(tái)式掃描電鏡 德國(guó)SEM 臺(tái)式掃描電鏡
品牌介紹
賽可(SEM)公司是專門從事開發(fā)生產(chǎn)掃描電子顯微鏡(SEM)與X-RAY檢測(cè)設(shè)備的企業(yè)。自1991年創(chuàng)立以來,經(jīng)過20多年的不懈努力與技術(shù)積累,已成為韓國(guó)的檢測(cè)設(shè)備研發(fā)制造公司。此外,核心零件的本土化與新技術(shù)的不斷開發(fā)也使得SEC具備了與世界大型企業(yè)相抗衡的競(jìng)爭(zhēng)力,成為制造業(yè)的者。
賽可生產(chǎn)研制的桌面型臺(tái)式掃描電鏡Mini-SEM不僅具備傳統(tǒng)SEM的分析功能及高分辨率等性能,更以其便捷的操作性、人性化的設(shè)計(jì)以及合理的價(jià)格,被廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、工業(yè)制造、化學(xué)化工、電子工業(yè)、環(huán)境科學(xué)、考古及司法鑒定等領(lǐng)域。賽可臺(tái)式掃描電鏡分為SNE-3000與SNE-4000兩個(gè)系列,可充分滿足使用者不同層次的分析需求。
SEM高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗(yàn)機(jī)。用于在疲勞試驗(yàn)過程中動(dòng)態(tài)時(shí)實(shí)觀測(cè)樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗(yàn)及800℃以下的高溫試驗(yàn)。
SEM 高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)特 點(diǎn):
· 電子顯微鏡SEM與試驗(yàn)機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu),具有高防振效果。
· 可以在利用SEM觀察的同時(shí),進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗(yàn)。
· 可以在常溫~800℃溫度范圍內(nèi),重復(fù)向樣品加載。
· 試驗(yàn)過程中,可以使SEM的視野與樣品的變形同步。
SEM 高溫疲勞試驗(yàn)機(jī)規(guī) 格:
· 試驗(yàn)載荷:±5KN
· zui大位移:±10mm
· 試驗(yàn)溫度:室溫~800℃
· SEM分辨率:3.4nm
· 放大倍率:×20~30萬倍
· 觀測(cè)范圍:6mm~16mm
用 途:
適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測(cè)試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測(cè)試。