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LZ-373型多功能膜厚測量儀
品牌：日本Kett
LZ-373型多功能膜厚測量儀用于磁性金屬上的非磁性被膜及非磁性金屬物上的絕緣被膜之測量，為雙功能型膜厚計。處理多種素材及多樣被膜之工作現場使用。
373系列皆可將資料打印或轉送計算機儲存；機體搭載有16項功能，并備有打印機、測量臺、外部輸出線及資料管理軟件供選購利用。
特色：
· 中文界面
具備中文、日文、英文、韓文四種操作語言顯示，操作簡單明了。
· 100組檢量曲線記憶容量
使用者可將所有工件分類，將檢量曲線各別建立，開機即可上使用，不需再校正。
· 測量值具查閱功能
工作現場的量測值zui多可記憶3,000筆，使用者可在「刪除數據」功能下，一一查閱每一筆測量值。
· 具統計平均功能
統計計算范圍可由使用者自行設定，統計計算zui大值、zui小值、平均值及標準差值。
· 具連續掃瞄測量功能
373系列膜厚計搭載「單點測量」及「連續測量」功能，廣用于各種表面狀況及排除測量爭議。
· 具資料傳輸功能
測量數值可外接打印機VZ-330(選購)或外接計算機。測量時實時傳輸或測量后一并傳輸皆可。
規格：
| 測量方式 | 電磁誘導式 |
| 測量對象 | 磁性金屬上非磁性被膜 及非磁性金屬上的絕緣被膜 |
| 測量范圍 | 0～2,500μm或0～99.0mils 或 0～1,200μm或0～47.0mils |
| 測頭型式 | 單點接觸定壓式（LEP-J & LHP-J） |
| zui小測量面積 | 5x5mm |
| 測量精度 | 50μm以下：±1μm；50μm～1,000μm：±2%；1,000μm以上:±3% |
| 分辨率 | 100μm以下：0.1μm；100μm以上：1.0μm |
| 檢量曲線 | 電磁式50組、渦電流式50，共100組檢量曲線記憶 |
| 資料記憶數 | 約39,000筆，資料具查閱功能 |
| 測量功能 | 具單點測試、連續掃瞄測試，可測試膜厚分布變化 |
| 顯示方式 | 背光式LCD(18064dots)數位顯示zui小解析0.1μm |
| 外部輸出 | 可將資料輸出至個人計算機或打印機（RS-232C) |
| 電 源 | 單3堿性電池x4顆 |
| 電力消耗 | 80mW(當背光關閉時) |
| 電池壽命 | 約100小時(連續使用，背光關閉時) |
| 操作環境 | 0～40℃ |
| 應用功能 | 檢量線選擇、素材補正、資料刪除、資料記憶、上下限設定、統計計算(測量次數、平均值、標準偏差、zui大值、zui小值)、顯示選擇、日期時間、自動關機時間、背光亮度、背光時間、單位切換、資料輸出、自動批號區分、測量方式、維修模式等功能 |
| 尺 寸 | W75xD140H31(mm) |
| 重 量 | 約340g |
| 標準配件 | 標準片盒子、單3號堿性電池1.5Vx4顆、曲面固定器、攜帶皮套 |
| 專屬配件 | 鐵素材(FE373)、鋁素材(NFE-373)、標準片6片組(10μm、50μm、100μm、500μm、1,000μm、1,500μm) |
| 選購配備 | 標準片(配件以外的厚度)、膜厚計測臺LW-990、USB計算機傳輸線、打印機VZ-330、打印機傳輸線、RS-232C&USB轉換線、資料管理軟件LDL-02、資料管理軟件McWAVE系列 |
株式會社ケツト科學研究所
Kett Electric Laboratory
中國區總代理，：