吉時利半導體特性分析系統 其它儀器是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進的參數分析儀具有不可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統和吉時利交互式測試環境，
為半導體科研及產業用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能。
吉時利半導體特性分析系統 其它儀器使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
特點
內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試
自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數
測量、 切換、 重復。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
用戶可配置低電流功能
個性化輸出通道名稱
查看實時測試狀態
檢定、 自定義
簡單地說，4200A-SCS 可以玩全自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執行電氣檢定和評估。
特點
NBTI/PBTI 測試
隨機電報噪聲
非易失內存設備
穩壓器應用測試
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
“點擊"測試定序
“手動"探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實現調試
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