主要特性與技術指標
108 dB 的動態范圍,<0.006 dB 跡線噪聲
<9 微秒/點的測量速度,32 個通道,16,001 點
支持 TRL/LRM 校準、晶片上、夾具內和波導測量
主要特性與技術指標
108 dB 的動態范圍,<0.006 dB 跡線噪聲
<9 微秒/點的測量速度,32 個通道,16,001 點
支持 TRL/LRM 校準、晶片上、夾具內和波導測量
主要特性與技術指標
108 dB 的動態范圍,<0.006 dB 跡線噪聲
<9 微秒/點的測量速度,32 個通道,16,001 點
支持 TRL/LRM 校準、晶片上、夾具內和波導測量
主要特性與技術指標
108 dB 的動態范圍,<0.006 dB 跡線噪聲
<9 微秒/點的測量速度,32 個通道,16,001 點
支持 TRL/LRM 校準、晶片上、夾具內和波導測量
主要特性與技術指標
108 dB 的動態范圍,<0.006 dB 跡線噪聲
<9 微秒/點的測量速度,32 個通道,16,001 點
支持 TRL/LRM 校準、晶片上、夾具內和波導測量