產品概述：
EXFO OPAL-SD單晶片半自動探針臺以其高精度、可重復性、自動化、可追溯性、靈活性和可擴展性等特點，在集成光子器件的測試領域具有廣泛的應用前景。無論是科研還是工業生產中的測試需求，該設備都能提供準確可靠的測試結果，并幫助用戶優化測試流程和提高測試效率。
產品特點：
高精度與可重復性：
OPAL-SD單晶片半自動探針臺配備了高精度DC、RF手動探針定位器以及超精密的光探針，確保了測試的準確性和可重復性。
探針定位器能夠精確調整卡盤和裸片的位置，從而實現微米級甚至納米級的定位精度。
自動化與可追溯性：
該設備結合了PILOT軟件套件，提供了一個全面、靈活、可擴展的解決方案，能夠自動化測試流程并處理測量結果。
PILOT軟件還提供了數據分析和人工智能建模功能，幫助用戶將PIC的測量結果轉化為正確決策和行動。
借助先進的自動化軟件，用戶可以定義并維護電路元件、設計參數、模擬結果、實驗結果和條件之間的邏輯結構，實現絕對可追溯性。
靈活性與可擴展性：
OPAL-SD平臺的設計非常靈活，可以通過同時設置多達4個探針的任意組合來滿足不同客戶的需求。
光或電探針可以放置在被測設備周圍的任何朝向（北向、東向、南向和西向），這種靈活性使得客戶能夠根據自己的需求定制和擴展測試。
全面的測試能力：
OPAL-SD單晶片半自動探針臺不僅支持簡單的連通性或隔離性檢查，還支持復雜的微電路完整功能測試。
該設備能夠結合EXFO系列儀表的先進光學測量功能，進行光譜分析以及誤碼率等光電測試。
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