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技術文章

聊聊TCT溫度循環實驗的條件

閱讀:2980          發布時間:2023-6-29

聊聊TCT溫度循環實驗的條件


    有很多芯片行業的客戶說要做溫度循環實驗(Temperature cycling test:TCT)測試,不知道具體的條件是什么,下面勤卓小編給大家分享一下,希望能夠對大家有所幫助。

   主要的測試目的:用于評估芯片封裝對于高低溫快速轉換之耐受度。進行該測試時,將芯片按照預定的循環次數反復暴露于此條件下。

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測試條件:條件B -55~125℃,700cycles

                 條件G -40~125℃,850cycles

                 條件C -65~125℃,500cycles

                 條件K 0~125℃,1500cycles

                 條件J 0~100℃,2300cycles    


樣品數 : 25ea/lot , 3lots

參考規范:MIL-STD-883 Method 1010.7、JESD22-A104 

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   勤卓環試于2010年成立以來,專注發展可靠性測試設備,秉承“一款產品,就是一個行業品牌"的發展理念,勤卓研發生產的環境試驗設備,一直以性能穩定,參數精密,而獲得市場的廣泛認可,勤卓品牌試驗設備先后進駐中科院、清華大學、沈飛集團、中船重工、比亞迪、邁瑞醫療、比克電池等各大企事業單位,受到市場的廣泛好評和尊敬。

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