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熱售*聲波測厚儀 進口38DL PLUS測厚儀 *高級設備
【產品名稱】Panametrics 38DL PLUS OLYMPUS*聲波測厚儀
【產品型號】Panametrics 38DL PLUS
【*聲波測厚儀技術參數】
顯示:彩色透反VGA顯示液晶顯示,顯示屏尺寸:56.16毫米 X 74.88毫米
檢波全波:RF波、正半波、負半波
輸入/輸出:USB1.0從接口。RS-232有。
存儲卡較為大容量:2 GB外置MicroSD存儲卡。視頻輸出VGA輸出標準。
內置數據記錄器:數據記錄器38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。容量475000個厚度測量讀數,或20000個帶厚度值的波形文件名稱、ID編碼及注釋32位字符的文件名,20位字符的字母數字位碼,每個位有四個注釋。文件結構9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。
報告機載:報告總結了數據統計、帶有位置信息的較為小值/較為大值、較為小值回顧、文件比較及報警報告。
軟件選項
38DLP-OXIDE (U8147014):使用編碼激活的內部氧化層測量軟件。
38DLP-HR (U8147015):使用編碼激活的高分辨率測量軟件。
38DLP-MM (U8147016):使用編碼激活的多層測量軟件。
38DLP-HP (U8147017):使用編碼激活的高穿透(低頻)測量軟件。
選購附件
38DLP/EW (U8778348):3年保修。
1/2XA/E110 (U8767104):用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。
38-9F6 (U8840167):RS-232線纜
38-C-USB-IP67 (U8800998):USB線纜,用于符合IP67標準的密封操作。
38DLP/RFS (U8780288):腳踏開關,廠內安裝。
HPV/C (U8780124):數字式卡尺線纜,用于在測量聲速時進行厚度輸入。
38DLP-V-CC (U8840172): 數字式卡尺線纜。
38DLP/BCW/NC (U8780289):棒材編碼讀取器。
EPLTC-C-VGA-6 (U8840035):VGA輸出線纜。
MICROSD-ADP-2GB (U8779307):2 GB外置MicroSD存儲卡。技術規格
測量
雙晶探頭測量模式從激勵脈沖后的延時到*個回波之間的時間間隔。
穿透涂層測量模式利用單個底面回波(使用D7906-SM和D7908探頭),測量金屬的實際厚度和涂層厚度。
穿透漆層回波到回波測量模式在兩個連續底面回波之間的時間間隔,不計漆層或涂層的厚度。
單晶探頭測量模式模式1:激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。
模式2:延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。
模式3:在激勵脈沖之后,位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔(使用延遲線式或水浸式探頭)。
氧化層模式:可選。
多層模式:可選。
厚度范圍:0.080毫米~635.00毫米,視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。
材料聲速范圍:0.508 mm/μs~13.998 mm/μs
分辨率(可選擇)低分辨率:0.1毫米
標準分辨率:0.01毫米
高分辨率(可選項):0.001毫米
探頭頻率范圍標準:2.0 MHz~30 MHz(-3 dB)
高穿透(可選項):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)
一般規格:工作溫度范圍-10°C~50°C鍵區密封、以色彩區分功能的鍵盤,帶有觸感及聲音反饋。機殼防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼;機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。
外型尺寸(寬 x 高 x 厚)總體尺寸:125毫米x211毫米x46毫米
重量:0.814公斤
電源AC/DC適配器:24V鋰離子電池,23.760 Wh;或4節AA輔助電池。
鋰離子電池供電時間工作時間:較為少12.6小時,一般14小時,較為多14.7小時。快速充電:2小時到3小時。標準設計符合EN15317標準。
【數字*聲波測厚儀產品特點】
PLUS測厚儀是一款開創*聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可*地適用于幾乎所有*聲測厚應用,而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL
PLUS測厚儀可用于各種應用,包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量,以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其的壁厚測量。
38DL
PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能,以及一些于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求,可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
主要特性
• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能,用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭,標準分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數。
• 帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
• 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
• 設計符合EN15317標準。
這款測厚儀與其他測厚儀有何不同?
38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求,而且可在野外和生產現場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗,38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結實的測厚儀器,那么,符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。
上海旦鼎提供的熱售*聲波測厚儀 進口38DL PLUS測厚儀 *高級設備,具有以下幾點特征:
1. 質量穩定:實行全過程質量監控,細致入微,*檢測!
2. 價格合理:高效內部成本控制,減少了開支,讓利于客戶!
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