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岱美儀器技術服務（上海）有限公司

PRODUCT DISPLAY

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  • MESA系列 磁性測量系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    SHB自1976年以來，Instruments一直在生產一系列行業主導的磁性測量系統。與其他競爭產品不同的是，臺面系列采用最新的全數字電路和信號處理技術進行測量
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    磁性測量MESASHB
    2024/11/9 16:04:071006

  • WLA-5000 - 磁傳感器晶圓水平儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    分析磁性薄膜和傳感器的性能對磁性傳感器的設計和生產至關重要，ISI的WLA-5000磁性傳感器分析儀結合了ISI專有的測量電子設備、電源、探針卡、控制器和磁鐵，...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    水平儀磁傳感器
    2024/11/9 16:01:51983

  • WLA-3000 晶圓水平儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    分析磁膜性能對磁傳感器的設計和生產至關重要，WLA-3000自動晶圓液位分析儀可以與各種行業標準的自動晶圓探針集成，以表征成品器件或測試結果（包括橋接配置）的磁...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓水平儀磁傳感器測試
    2024/11/9 16:00:00892

  • 組裝和檢查紅外系統 定心儀（偏心儀） 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：LAS系列
    定心儀具有綠色（520nm）激光反射光模塊，533mm垂直直線聚焦運動，微步進電機和高精度旋轉編碼器
    型號： LAS系列 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    組裝和檢查紅外系統
    2024/11/9 15:54:151641

  • UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    UltraINSP晶圓表面缺陷檢測系統是表面缺陷檢測的蕞完善的國產化替代產品，系統包括四個模塊可以檢測所有晶圓表面并同步采集數據：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測模...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    晶圓檢測表面缺陷檢測缺陷檢測
    2024/12/18 13:38:331208

  • UltraFilm薄膜測量系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    系統可以為各種材質薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創新的融合光譜反射技術、近紅外干涉技術以及高亮度光源驅動的光譜橢偏儀技術的多傳感器融合測量技術，是國內可以...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    薄膜測量同質膜厚全自動檢測
    2024/11/26 17:16:591494

  • FR-Ultra NIR N3 晶圓厚度測量系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-Ultra 是一款專用于精確測量半導體以及介電材料超厚層的專用設備。 藉由先進的光學器件，FR-Ultra 可以測量光滑或粗糙的薄膜以及較厚的基材。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    晶圓厚度測量FR-Ultra半導體測量半導體材料
    2024/11/9 15:45:581007

  • QuickOCT-4D--膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結合，可以在高達 ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    光學相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:44:271768

  • QuickPRO-RPS--旋轉剖面儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    專為測量旋轉對稱樣品的表面形貌和透明薄膜的厚度而設計，如金剛石車削光學表面和模塑或拋光的非球面透鏡
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    旋轉剖面儀OATI輪廓儀形貌儀
    2024/11/9 15:42:53982

  • QuickPRO-3D--表面輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    適用于光學、工業和半導體市場的高速、中精度、經濟實惠的表面輪廓儀，納米分辨率彩色共聚焦傳感器（可配制點和線傳感器），為在線過程測量和控制而設計，結構緊湊，易于上...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    輪廓儀表面測量3D形貌儀白光干涉輪廓儀
    2024/11/9 15:41:001381

  • QuickOCT-4D —膜厚輪廓儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    QuickOCT-4D™ 將單點可見光光譜域光學相干斷層掃描 （SD-OCT） 傳感器與高速納米編碼的 X/Y/Z 運動控制平臺相結合，可以在高達 ...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    應力測量光學相干斷層掃描OATI
    2024/11/9 15:36:49935

  • iFocus晶圓檢測系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測設備，利用STI的2D/3D視覺檢測系統，采用雙2D Camera同時采集亮區和暗區照片分析特征缺陷；True 3D技術，...
    型號： 品牌：其他品牌所在地：上海市 對比
    長川晶圓檢測iFocus晶圓缺陷檢測STI
    2024/11/9 15:34:221525

  • 自動化SmartNIL紫外納米壓印光刻系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：EVG720
    長達 150 毫米的自動化全場紫外納米壓印解決方案，采用 EVG 專有的 SmartNIL 技術
    型號： EVG720 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    EVG720納米壓印光刻
    2024/11/9 15:30:181101

  • FR-Mic：全自動帶顯微鏡多點測量膜厚儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    硬化涂層膜厚儀是一款快速、準確測量薄膜表征應用的模塊化解決方案，要求的光斑尺寸小到幾個微米，如微圖案表面，粗糙表面及許多其他表面。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀測膜儀薄膜厚度分析儀薄膜厚度測量儀薄膜測量儀
    2024/11/9 15:28:141072

  • FR-pRo：Thetametrisis膜厚測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    Thetametrisis膜厚測量儀FR-pRo是一個模塊化和可擴展平臺的光學測量設備，用于表征厚度范圍為1nm-1mm 的涂層。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    膜厚儀膜厚測量儀測膜儀薄膜厚度測量儀光學薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:26:251360

  • FR-Scanner：自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    光學厚度測量儀的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:24:541150

  • FR-InLine-在線薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：
    FR-InLine 是一款模塊化可擴展的在線薄膜厚度測量儀（膜厚儀），可進行在線非接觸測量 3nm-1mm 厚度范圍內的涂層。 FR-InLine 膜厚儀并可以...
    型號： 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀膜厚儀FR-InLine岱美儀器
    2024/12/18 14:04:391246

  • -自動化高速薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150
    顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現性和長期穩定性方面保證了優異的性能。
    型號： FR-Scanne... 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    顯示器薄膜測量自動高速薄膜厚度測量薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:21:02547

  • 晶圓厚度測量系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-Ultra
    FR-Ultra是一種緊湊型設備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。
    型號： FR-Ultra 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜厚度測量儀
    2024/11/9 15:19:31996

  • 精簡薄膜厚度測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：FR-ES
    FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。
    型號： FR-ES 品牌：ThetaMetrisis所在地：上海市 對比
    薄膜測厚儀
    2024/11/9 15:17:031070

  • Dymek岱美儀器分步重復納米壓印光刻機 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：EVG770 NT
    我們的EVG770分步重復納米壓印光刻機是用于步進式納米壓印光刻的通用平臺，可用于有效地進行母版制作或對基板上的復雜結構進行直接圖案化。這種方法允許從蕞大50 ...
    型號： EVG770 NT 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    EVG770 NTEVG770納米壓印光刻機
    2024/11/9 15:15:221426

  • 自動化臨時鍵合系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：EVG850 TB
    EVG850 TB-自動化臨時鍵合系統 EVG鍵合機 全自動的臨時鍵合系統（晶圓鍵合機）可在一個自動化工具中實現整個臨時鍵合過程-從臨時鍵合劑的施加，烘焙，將設...
    型號： EVG850 TB 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    自動晶圓鍵合對準機晶圓鍵合對準機鍵合對準機鍵合對準機價格
    2024/11/9 15:13:441416

  • 掩模對準光刻機系統 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：Dymek岱美儀器EVG620 NT
    EVG620 NT以其多功能性和可靠性而著稱，在蕞小的占位面積上結合了優良的對準功能和蕞優化的總體擁有成本，提供了優于其他品牌的掩模對準技術。它是光學雙面光刻的...
    型號： Dymek岱美儀器... 品牌：EVG所在地：上海市 對比
    納米壓印EVG620光刻系統
    2024/11/9 15:06:011536

  • FPD Photomask缺陷檢查裝置 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：LODAS™ – LI系列
    LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
    型號： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對比
    FPD Photomask缺陷檢查裝置
    2024/11/9 15:02:361377
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