丹東百特儀器有限公司
使用BeNano 90 Zeta檢測(cè)氧化鋁磨料的粒徑和Zeta電位
檢測(cè)樣品：氧化鋁磨料
檢測(cè)項(xiàng)目：檢測(cè)氧化鋁磨料的粒徑和Zeta電位
方案概述：在這篇應(yīng)用報(bào)告中，我們使用丹東百特儀器有限公司新推出的BeNano90Zeta納米粒度電位儀檢測(cè)了分散在水性環(huán)境中的納米氧化鋁的粒徑和Zeta電位信息。
納米氧化鋁拋光液用途廣泛，適用于光學(xué)鏡頭、單芯光纖連接器、微晶玻璃基板、晶體表面、寶石、玻璃制品、金屬制品、半導(dǎo)體材料、塑料、磁帶、打磨帶等方面的精密拋光。拋光液的穩(wěn)定性非常重要，如果拋光液中氧化鋁顆粒產(chǎn)生團(tuán)聚會(huì)嚴(yán)重的影響拋光效果，甚至產(chǎn)生大量劃痕。而拋光液的穩(wěn)定性與氧化鋁顆粒的Zeta電位息息相關(guān)。
在這篇應(yīng)用報(bào)告中，我們使用丹東百特儀器有限公司最新推出的BeNano 90 Zeta納米粒度電位儀檢測(cè)了分散在水性環(huán)境中的納米氧化鋁的粒徑和Zeta電位信息。
原理和設(shè)備
采用丹東百特儀器有限公司的BeNano 90 Zeta納米粒度電位儀進(jìn)行測(cè)試。儀器使用波長671 nm，功率50 mW激光器作為光源。動(dòng)態(tài)光散射光路收集90°散射光，通過相關(guān)計(jì)算得到原始相關(guān)曲線信號(hào)，進(jìn)而推導(dǎo)出顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度，由斯托克斯愛因斯坦方程得到顆粒的粒徑和粒徑分布信息。電泳光散射光路通過設(shè)置在12度角的檢測(cè)器進(jìn)行散射光信號(hào)采集，采用PALS相位分析光散射技術(shù)，得到電泳遷移率和樣品的Zeta電位信息。
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